| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 符号对照表 | 第10-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-25页 |
| 1.1 研究背景 | 第15-19页 |
| 1.1.1 红外热成像技术和红外系统 | 第15-16页 |
| 1.1.2 红外成像传感器 | 第16-18页 |
| 1.1.3 IRFPA的响应非均匀性及校正 | 第18-19页 |
| 1.2 非均匀性校正技术发展现状及趋势 | 第19-21页 |
| 1.3 本文主要内容 | 第21-25页 |
| 第二章 红外焦平面的非均匀性分析 | 第25-33页 |
| 2.1 红外焦平面阵列响应模型 | 第25-26页 |
| 2.1.1 线性响应模型 | 第25-26页 |
| 2.1.2 非线性响应模型 | 第26页 |
| 2.2 非均匀性产生的原因 | 第26-29页 |
| 2.2.1 非均匀性定义 | 第26-27页 |
| 2.2.2 非均匀性产生的原因 | 第27-29页 |
| 2.3 非均匀性评价标准 | 第29-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-33页 |
| 第三章 非均匀性校正算法概述 | 第33-43页 |
| 3.1 基于定标的校正算法 | 第33-36页 |
| 3.1.1 两点校正算法 | 第33-34页 |
| 3.1.2 多点定标校正算法 | 第34-36页 |
| 3.1.3 基于定标的校正算法分析 | 第36页 |
| 3.2 基于场景的校正算法 | 第36-42页 |
| 3.2.1 时域高通滤波校正算法 | 第37-38页 |
| 3.2.2 神经网络校正算法 | 第38-41页 |
| 3.2.3 基于场景的校正算法分析 | 第41-42页 |
| 3.3 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 时空滤波相结合的非均匀性校正算法 | 第43-55页 |
| 4.1 时域高通滤波校正算法仿真与分析 | 第43-46页 |
| 4.1.1 时域高通滤波校正算法仿真 | 第43-44页 |
| 4.1.2 时域高通滤波校正算法“鬼影”成因和场景退化分析 | 第44-46页 |
| 4.2 时空滤波相结合的非均匀性校正算法 | 第46-49页 |
| 4.2.1 全局滤波 | 第46-47页 |
| 4.2.2 时空滤波相结合的非均匀性校正算法 | 第47-49页 |
| 4.3 算法和仿真分析 | 第49-54页 |
| 4.3.1 双边滤波算法和全局滤波算法的滤波性能分析 | 第49-51页 |
| 4.3.2 时空滤波相结合的非均匀性校正算法仿真分析 | 第51-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 基于矩匹配的时域非均匀性校正方法 | 第55-63页 |
| 5.1 矩匹配算法 | 第55-57页 |
| 5.1.1 算法原理 | 第55-56页 |
| 5.1.2 算法仿真与分析 | 第56-57页 |
| 5.2 基于矩匹配的红外图像自适应非均匀性校正方法 | 第57-62页 |
| 5.2.1 双边滤波 | 第57-58页 |
| 5.2.2 基于矩匹配的时域非均匀性校正算法 | 第58-60页 |
| 5.2.3 算法仿真和分析 | 第60-62页 |
| 5.3 本章小结 | 第62-63页 |
| 第六章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 6.1 总结 | 第63页 |
| 6.2 展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 作者简介 | 第71-72页 |
