涂层导体用Ni4WV合金基带的再结晶织构研究
| 摘要 | 第2-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 1 绪论 | 第7-22页 |
| 1.1 高温超导材料的研究背景 | 第7-8页 |
| 1.1.1 超导材料的历史及发展 | 第7页 |
| 1.1.2 高温超导材料的应用 | 第7-8页 |
| 1.2 第二代涂层导体YBCO的研究现状 | 第8-11页 |
| 1.2.1 钇系超导体YBCO的特点 | 第8-9页 |
| 1.2.2 YBCO涂层导体的结构与制备 | 第9-11页 |
| 1.3 涂层导体用金属基带的研究现状 | 第11-14页 |
| 1.3.1 金属基带的性能要求 | 第11页 |
| 1.3.2 金属基带的分类 | 第11-12页 |
| 1.3.3 Ni合金基带的研究 | 第12-14页 |
| 1.4 织构研究 | 第14-20页 |
| 1.4.1 织构的概念与分类 | 第14-16页 |
| 1.4.2 织构的表达方法 | 第16-18页 |
| 1.4.3 冷轧及再结晶织构 | 第18-20页 |
| 1.5 论文的研究目的和研究内容 | 第20-22页 |
| 1.5.1 研究目的与意义 | 第20页 |
| 1.5.2 研究内容 | 第20-22页 |
| 2 样品的制备与测试分析 | 第22-35页 |
| 2.1 样品的制备 | 第22-28页 |
| 2.1.1 Ni4WxV合金坯锭的制备 | 第22-25页 |
| 2.1.2 合金基带的冷轧及再结晶工艺 | 第25-28页 |
| 2.2 金相显微分析 | 第28-29页 |
| 2.3 成分分析 | 第29页 |
| 2.3.1 XRD分析 | 第29页 |
| 2.3.2 EDS分析 | 第29页 |
| 2.4 织构分析 | 第29-32页 |
| 2.4.1 XRD分析 | 第29-31页 |
| 2.4.2 EBSD分析 | 第31-32页 |
| 2.5 磁性能测试 | 第32页 |
| 2.6 力学性能测试 | 第32-33页 |
| 2.7 显微硬度测试 | 第33-35页 |
| 3 Ni4WV合金基带的性能比较 | 第35-56页 |
| 3.1 引言 | 第35页 |
| 3.2 Ni4WV合金成分分析 | 第35-38页 |
| 3.2.1 EDS能谱分析 | 第35-37页 |
| 3.2.2 XRD成分分析 | 第37-38页 |
| 3.3 微观组织分析 | 第38-41页 |
| 3.4 Ni4WV合金基带性能比较 | 第41-55页 |
| 3.4.1 力学性能 | 第41-43页 |
| 3.4.2 磁性能 | 第43页 |
| 3.4.3 宏观织构 | 第43-53页 |
| 3.4.4 微观织构 | 第53-55页 |
| 3.5 小结 | 第55-56页 |
| 4 Ni4W2V合金基带的再结晶工艺研究 | 第56-61页 |
| 4.1 引言 | 第56页 |
| 4.2 最终再结晶温度对织构的影响 | 第56-57页 |
| 4.3 第一步再结晶温度对织构的影响 | 第57-60页 |
| 4.4 小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
