| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-31页 |
| 1.1 膜分离技术 | 第10-11页 |
| 1.2 沸石分子筛膜的研究概况 | 第11-24页 |
| 1.2.1 分子筛材料简介 | 第11-12页 |
| 1.2.2 分子筛膜的特点 | 第12页 |
| 1.2.3 分子筛膜的合成 | 第12-20页 |
| 1.2.3.1 基底的类型 | 第12-14页 |
| 1.2.3.2 各种合成方法 | 第14-18页 |
| 1.2.3.3 模板剂的脱除 | 第18-20页 |
| 1.2.4 分子筛膜的表征 | 第20-22页 |
| 1.2.5 分子筛膜的缺陷 | 第22-24页 |
| 1.3 分子筛膜的应用 | 第24-29页 |
| 1.3.1 气体分离 | 第24-26页 |
| 1.3.2 渗透气化 | 第26-28页 |
| 1.3.3 其他应用 | 第28-29页 |
| 1.4 本课题的选题目的与意义 | 第29页 |
| 1.5 本论文所主要取得的结果 | 第29-30页 |
| 1.6 本文所用表征方法和测试手段 | 第30-31页 |
| 第二章 取向 SAPO-34 分子筛膜的制备 | 第31-47页 |
| 2.1 引言 | 第31-32页 |
| 2.2 SAPO-34 分子筛膜的制备 | 第32-35页 |
| 2.2.1 实验试剂 | 第32页 |
| 2.2.2 晶种的合成及晶种溶液的配制 | 第32-33页 |
| 2.2.3 基底和基底的预处理 | 第33-34页 |
| 2.2.4 SAPO-34 分子筛晶种层的制备 | 第34页 |
| 2.2.5 SAPO-34 分子筛膜的制备 | 第34-35页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第35-46页 |
| 2.3.1 SAPO-34 分子筛晶种的表征与分析 | 第35-37页 |
| 2.3.1.1 SAPO-34 晶种的表征 | 第35-36页 |
| 2.3.1.2 SAPO-34 晶种层表征 | 第36-37页 |
| 2.3.2 反应原料加入量对膜的影响 | 第37-40页 |
| 2.3.3 不同合成温度对膜的影响 | 第40-43页 |
| 2.3.4 反应时间对膜的影响 | 第43-46页 |
| 2.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 第三章 LTA 介孔分子筛膜的制备 | 第47-58页 |
| 3.1 引言 | 第47-48页 |
| 3.2 LTA 介孔分子筛膜的制备 | 第48-49页 |
| 3.2.1 实验试剂 | 第48页 |
| 3.2.2 晶种的合成及晶种液的配制 | 第48-49页 |
| 3.2.3 晶种层的制备 | 第49页 |
| 3.2.4 LTA 介孔分子筛膜的制备 | 第49页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第49-57页 |
| 3.3.1 LTA 分子筛晶种 | 第49-50页 |
| 3.3.2 LTA 晶种层 | 第50-51页 |
| 3.3.3 不同 TPOAC 含量的膜 | 第51-55页 |
| 3.3.4 不同原料含量对膜的影响 | 第55-57页 |
| 3.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |
| 致谢 | 第63页 |