| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 缩略词表 | 第8-12页 |
| 1 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 课题的背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 A型漏电保护器的发展历程和国内外研究现状 | 第13-16页 |
| 1.2.1 已往的研究 | 第13-14页 |
| 1.2.2 最新的研究成果 | 第14-16页 |
| 1.3 本论文的主要工作和组织结构 | 第16-18页 |
| 1.3.1 本论文的主要研究内容 | 第16页 |
| 1.3.2 本论文的组织结构 | 第16-18页 |
| 2 芯片的系统设计 | 第18-25页 |
| 2.1 A型漏电保护器的工作原理 | 第18-19页 |
| 2.2 A型漏电保护器专用集成电路芯片ZDAB的系统结构 | 第19-20页 |
| 2.3 ZDAB实现漏电保护的过程 | 第20-21页 |
| 2.4 ZDAB电路各模块对漏电脱扣阈值离散的影响 | 第21-23页 |
| 2.5 ZDAB的设计指标 | 第23-24页 |
| 2.6 本章小结 | 第24-25页 |
| 3 芯片的电路设计与实现 | 第25-66页 |
| 3.1 低输入失调电压运放的设计 | 第25-43页 |
| 3.1.1 集成电路设计中的不匹配因素 | 第25-29页 |
| 3.1.2 运放的输入失调电压 | 第29-31页 |
| 3.1.3 减小运放输入失调电压的技术 | 第31-36页 |
| 3.1.4 ZDAB斩波稳定运放的设计 | 第36-43页 |
| 3.2 参考电压产生电路设计 | 第43-44页 |
| 3.3 PVT补偿的振荡电路 | 第44-57页 |
| 3.3.1 片上振荡电路频率PVT补偿方法 | 第45-52页 |
| 3.3.2 抗PVT变化的尾电流型环形振荡电路 | 第52-55页 |
| 3.3.3 温度离散很低的振荡电路 | 第55-57页 |
| 3.4 优化的A型漏电电流判别算法 | 第57-62页 |
| 3.4.1 算法原理 | 第57-61页 |
| 3.4.2 算法的实现电路 | 第61-62页 |
| 3.5 ZDAB整体功能后仿真 | 第62-64页 |
| 3.6 本章小结 | 第64-66页 |
| 4 芯片的物理实现及测试 | 第66-87页 |
| 4.1 版图中衬底耦合效应 | 第66页 |
| 4.2 版图中减小失配的设计规则 | 第66-67页 |
| 4.3 芯片版图的设计 | 第67-68页 |
| 4.4 芯片的封装 | 第68-69页 |
| 4.5 芯片的测试 | 第69-83页 |
| 4.5.1 芯片的测试电路图 | 第70-71页 |
| 4.5.2 PVT补偿环振测试 | 第71-74页 |
| 4.5.3 ZDAB漏电跳闸值的测试 | 第74-80页 |
| 4.5.4 斩波稳定运放性能测试 | 第80-81页 |
| 4.5.5 M54133的测试 | 第81-83页 |
| 4.6 测试结果对比总结 | 第83-85页 |
| 4.6.1 PVT补偿环振与国际最新文献对比 | 第83-84页 |
| 4.6.2 ZDAB测试结果与M54133测试结果对比 | 第84页 |
| 4.6.3 ZDAB测试结果与设计指标的总结 | 第84-85页 |
| 4.7 本章小结 | 第85-87页 |
| 5 总结与展望 | 第87-89页 |
| 5.1 总结 | 第87-88页 |
| 5.2 展望 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-94页 |
| 作者简历及在学期间所取得的科研成果 | 第94页 |
