基于蒙特卡洛法的公差分析及优化设计方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 相关问题的国内外研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 新一代 GPS 中公差建模技术研究 | 第12-13页 |
| 1.2.2 并行公差分析及偏差传递研究 | 第13-14页 |
| 1.2.3 基于蒙特卡洛法的公差分析研究 | 第14-15页 |
| 1.2.4 公差优化设计理论研究 | 第15-16页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 面向装配的并行公差建模 | 第17-33页 |
| 2.1 产品几何描述 | 第17-26页 |
| 2.1.1 零件几何实体及表面特征描述 | 第17-19页 |
| 2.1.2 三维几何造型的公差建模 | 第19-21页 |
| 2.1.3 小位移旋量的形状公差模型 | 第21-24页 |
| 2.1.4 小位移旋量的平面尺寸公差模型 | 第24-26页 |
| 2.2 考虑装配变形的偏差传递分析 | 第26-29页 |
| 2.2.1 偏差元建立及偏差传递关系确定 | 第26-27页 |
| 2.2.2 齐次坐标变换的累计偏差计算 | 第27-29页 |
| 2.3 公差一致性验证 | 第29-31页 |
| 2.3.1 公差原则 | 第29页 |
| 2.3.2 公差一致性验证及实例 | 第29-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-33页 |
| 第3章 低偏差序列的蒙特卡洛公差分析 | 第33-48页 |
| 3.1 公差数值分析 | 第33-34页 |
| 3.2 公差模拟实验分析法 | 第34-40页 |
| 3.2.1 蒙特卡洛模拟 | 第35页 |
| 3.2.2 蒙特卡洛法公差分析 | 第35-38页 |
| 3.2.3 尺寸非正态分布处理 | 第38-40页 |
| 3.3 低偏差序列的蒙特卡洛公差分析 | 第40-44页 |
| 3.3.1 装配公差计算分析模型 | 第41-42页 |
| 3.3.2 低偏差序列的构造 | 第42-43页 |
| 3.3.3 低偏差序列的公差分析流程 | 第43-44页 |
| 3.4 公差分析实例验证 | 第44-47页 |
| 3.4.1 问题描述 | 第44-45页 |
| 3.4.2 公差分析计算结果 | 第45-46页 |
| 3.4.3 装配成功率估算 | 第46-47页 |
| 3.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第4章 成本和模糊质量损失约束的公差优化 | 第48-67页 |
| 4.1 公差成本模型 | 第48-52页 |
| 4.1.1 公差与制造成本关系 | 第48-49页 |
| 4.1.2 制造成本模型 | 第49-52页 |
| 4.1.3 小位移旋量参数成本模型 | 第52页 |
| 4.2 工序能力指数 | 第52-55页 |
| 4.2.1 工序尺寸的分布特性 | 第52-53页 |
| 4.2.2 工序能力指数 | 第53-54页 |
| 4.2.3 工序能力评价标准及改进措施 | 第54页 |
| 4.2.4 综合工序能力指数 | 第54-55页 |
| 4.3 模糊质量损失成本模型 | 第55-60页 |
| 4.3.1 田口质量损失模型 | 第55-56页 |
| 4.3.2 模糊质量损失及模糊质量损失率 | 第56-58页 |
| 4.3.3 模糊质量损失成本 | 第58-60页 |
| 4.4 成本和质量损失约束的公差优化模型 | 第60-64页 |
| 4.4.1 优化目标函数 | 第60-61页 |
| 4.4.2 约束条件 | 第61-62页 |
| 4.4.3 遗传算法的公差优化求解 | 第62-64页 |
| 4.5 实例验证及分析 | 第64-66页 |
| 4.5.1 问题描述及算法设定 | 第64-65页 |
| 4.5.2 优化结果 | 第65-66页 |
| 4.6 本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
