摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第9-14页 |
1.1 课题来源及研究意义 | 第9-10页 |
1.2 光学条纹干扰的研究发展与现状 | 第10-12页 |
1.2.1 光学条纹干扰的研究历程 | 第10-11页 |
1.2.2 光学条纹干扰的研究现状 | 第11-12页 |
1.2.3 现有光学条纹消除方法总结 | 第12页 |
1.3 本文的研究内容 | 第12-14页 |
第二章 光学条纹及TLAS相关理论 | 第14-26页 |
2.1 光学条纹的产生机理 | 第14-17页 |
2.1.1 基础模型及理论 | 第14-15页 |
2.1.2 光路中的标准具来源 | 第15-17页 |
2.2 TLAS技术基础原理 | 第17-23页 |
2.2.1 朗伯-比尔定律与气体吸收 | 第17-18页 |
2.2.2 气体分子吸收基本原理 | 第18页 |
2.2.3 气体分子吸收线型 | 第18-20页 |
2.2.4 TLAS测量原理 | 第20-23页 |
2.3 TLAS系统中光学条纹 | 第23-25页 |
2.3.1 直接吸收光谱中的光学条纹 | 第23-24页 |
2.3.2 波长调制光谱中的光学条纹 | 第24-25页 |
2.4 本章小结 | 第25-26页 |
第三章 光学条纹的特性分析与消除方法 | 第26-39页 |
3.1 WMS系统中的光学条纹分析 | 第26-30页 |
3.1.1 波长调制幅度与光学条纹 | 第26-28页 |
3.1.2 调制系数与气体吸收信号 | 第28页 |
3.1.3 调制系数优化方法 | 第28-30页 |
3.2 光学条纹映射与叠加 | 第30-35页 |
3.2.1 光学条纹映射原理 | 第30-31页 |
3.2.2 光学条纹的叠加原理 | 第31-32页 |
3.2.3 基于映射原理的条纹补偿方法 | 第32-35页 |
3.3 基于EMD的光学条纹分析 | 第35-38页 |
3.3.1 EMD方法步骤与特点 | 第35-37页 |
3.3.2 基于EMD的光学条纹分离分析 | 第37-38页 |
3.4 本章小结 | 第38-39页 |
第四章 TLAS系统中光学条纹消除方法的验证与应用 | 第39-61页 |
4.1 激光氧气分析仪的调制系数优化 | 第39-51页 |
4.1.1 激光氧气分析仪 | 第39-45页 |
4.1.2 激光氧气分析仪的光学条纹分析 | 第45-47页 |
4.1.3 调制系数优化方法的验证 | 第47-50页 |
4.1.4 调制系数优化方法的讨论 | 第50-51页 |
4.2 气体池光学条纹的映射与补偿 | 第51-55页 |
4.2.1 基于条纹映射原理的实验系统 | 第51-52页 |
4.2.2 气体池光学条纹分析与补偿 | 第52-53页 |
4.2.3 温度变化时的条纹补偿效果 | 第53-55页 |
4.2.4 分析与结论 | 第55页 |
4.3 二氧化碳图系统的光学条纹分离 | 第55-59页 |
4.3.1 二氧化碳图检测系统 | 第55-57页 |
4.3.2 二氧化碳图系统的光学条纹分析 | 第57页 |
4.3.3 基于EMD的光学条纹分离 | 第57-59页 |
4.4 本章小结 | 第59-61页 |
第五章 总结与展望 | 第61-63页 |
5.1 全文总结 | 第61-62页 |
5.2 展望 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第67-68页 |
致谢 | 第68-69页 |