功率MOSFET的UIL筛查能力研究
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·功率 MOSFET 的应用与发展 | 第8-9页 |
| ·耐受度的挑战 | 第9-11页 |
| ·工作定义与创新点 | 第11-12页 |
| 第二章 功率 MOSFET 的电感负载应用 | 第12-20页 |
| ·功率 MOSFET 应用范围 | 第12-15页 |
| ·功率 MOSFET 电感负载应用举例 | 第15-18页 |
| ·汽车自动电子点火器 | 第15页 |
| ·反激转换电路 | 第15-17页 |
| ·DC-AC 转换电路 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-20页 |
| 第三章 UIL 测试原理及损坏机理 | 第20-30页 |
| ·UIL 原理 | 第20-24页 |
| ·UIL 测试定义与基本原理 | 第20-22页 |
| ·UIL 测试过程 | 第22-24页 |
| ·UIL 损坏机理与模式 | 第24-29页 |
| ·损坏机理 | 第24-27页 |
| ·损坏模式 | 第27-28页 |
| ·UIL 测试结果 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 UIL 筛查能力实验与设计 | 第30-43页 |
| ·筛查原理 | 第30页 |
| ·实验描述 | 第30-32页 |
| ·试验建模 | 第32-35页 |
| ·电流密度模拟 | 第33-34页 |
| ·热密度模拟 | 第34-35页 |
| ·测试试验验证 | 第35-42页 |
| ·直流测试 | 第35-36页 |
| ·交流测试 | 第36页 |
| ·UIL 测试 | 第36-41页 |
| ·产线验证结果分析 | 第41-42页 |
| ·试验总结 | 第42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第五章 总结与展望 | 第43-45页 |
| ·总结 | 第43-44页 |
| ·展望 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 致谢 | 第47-48页 |