| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| ·前言 | 第9-10页 |
| ·监控和安防的意义及发展概况 | 第10-12页 |
| ·安全防护的意义 | 第10页 |
| ·安防监控的发展概况 | 第10-12页 |
| ·CMOS 图像传感器在监控安防领域的发展概况 | 第12-14页 |
| ·监控安防领域的两种图像传感器发展比较 | 第12-13页 |
| ·CMOS 图像传感器在监控安防领域的发展特征 | 第13-14页 |
| ·本文选题意义和研究方法，论文安排以及主要创新点 | 第14-17页 |
| ·选题意义和研究方法 | 第14-16页 |
| ·论文内容安排 | 第16-17页 |
| ·主要创新点 | 第17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第二章 监控 CMOS 图像传感器的性能要求 | 第18-31页 |
| ·CMOS 图像传感器的结构 | 第18-24页 |
| ·根据像素结构分类的 CMOS 图像传感器 | 第18-21页 |
| ·根据处理电路结构分类的 CMOS 图像传感器 | 第21-24页 |
| ·监控类 CMOS 图像传感器的重要性能参数 | 第24-28页 |
| ·像素的主要性能参数 | 第24-27页 |
| ·图像传感器系统的主要性能参数 | 第27-28页 |
| ·监控类 CMOS 图像传感器的设计方法 | 第28-30页 |
| ·监控 CMOS 图像传感器的噪声设计 | 第28-29页 |
| ·监控 CMOS 图像传感器的动态范围设计 | 第29-30页 |
| ·灵敏度设计 | 第30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 监控 CMOS 图像传感器低噪声设计 | 第31-64页 |
| ·CMOS 图像传感器主要噪声源 | 第31-40页 |
| ·模式噪声 | 第31-33页 |
| ·随机噪声 | 第33-39页 |
| ·热噪声 | 第34-36页 |
| ·闪烁(1/f)噪声 | 第36-37页 |
| ·散粒噪声(Shot Noise) | 第37-38页 |
| ·行随机噪声(Row Noise) | 第38-39页 |
| ·列并行结构噪声链 | 第39-40页 |
| ·CMOS 图像传感器低噪声模块设计 | 第40-56页 |
| ·低噪声带隙基准模块 | 第41-44页 |
| ·低噪声参考电压产生模块 | 第44-48页 |
| ·低噪声列放大器模块 | 第48-52页 |
| ·高 PSRR 像素电源 LDO 模块 | 第52-56页 |
| ·CMOS 图像传感器噪声的数字消除算法 | 第56-60页 |
| ·行随机噪声和列 FPN 的消除 | 第56-59页 |
| ·暗电流(Dark Current)噪声的消除 | 第59-60页 |
| ·一种新型低噪声列读出电路 | 第60-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第四章 监控 CMOS 图像传感器宽动态范围和高灵敏度设计 | 第64-84页 |
| ·前言 | 第64-66页 |
| ·CMOS 图像传感器宽动态范围设计 | 第66-78页 |
| ·对数响应的像素结构与线性/对数响应转换 | 第66-68页 |
| ·电荷泵升压技术 | 第68-69页 |
| ·四管/五管像素转换技术 | 第69-73页 |
| ·组合多次曝光控制技术 | 第73-78页 |
| ·CMOS 图像传感器高灵敏度设计 | 第78-83页 |
| ·本章小结 | 第83-84页 |
| 第五章 监控 CMOS 图像传感器的性能指标测试 | 第84-110页 |
| ·前言 | 第84-85页 |
| ·噪声(Noise)测试 | 第85-103页 |
| ·固定模式噪声(FPN)测试结果 | 第86-90页 |
| ·行随机噪声(Row Noise)测试结果 | 第90-93页 |
| ·随机噪声(Random Noise)测试结果 | 第93-96页 |
| ·暗电流噪声(Dark Current)测试结果 | 第96-103页 |
| ·动态范围(Dynamic Range)测试 | 第103-105页 |
| ·灵敏度(Sensitivity)测试 | 第105-106页 |
| ·本设计芯片与其他监控 CCD 芯片的实际效果对比 | 第106-109页 |
| ·本章小结 | 第109-110页 |
| 第六章 总结与展望 | 第110-112页 |
| 参考文献 | 第112-120页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第120-121页 |
| 致谢 | 第121页 |