基于STM32的地面测试设备的设计与实现
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-18页 |
·研究背景 | 第9页 |
·研究的目的与意义 | 第9-10页 |
·自动测试系统的发展及 ARM 的发展与应用 | 第10-16页 |
·自动测试系统的发展和趋势 | 第11-14页 |
·ARM 的发展和趋势 | 第14-15页 |
·ARM 在自动化设备中的应用 | 第15-16页 |
·论文的主要研究内容 | 第16-18页 |
2 系统的总体方案设计 | 第18-26页 |
·系统要求分析 | 第18-20页 |
·硬件需求分析 | 第18-19页 |
·软件需求分析 | 第19-20页 |
·系统方案设计 | 第20-25页 |
·设计思想 | 第20-21页 |
·总体方案设计 | 第21-24页 |
·工作原理 | 第24-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
3 硬件电路设计 | 第26-54页 |
·主控单元硬件设计 | 第27-36页 |
·主控 MCU | 第27-29页 |
·MCU 最小系统电路设计 | 第29-31页 |
·调试接口电路设计 | 第31-32页 |
·串口电路设计 | 第32-33页 |
·SPI 接口电路设计 | 第33-36页 |
·信号源模块硬件设计 | 第36-44页 |
·图像源模块设计 | 第36-42页 |
·模拟量模块设计 | 第42-44页 |
·温度采集模块硬件设计 | 第44-48页 |
·STM32 内部温度采集设计 | 第44-45页 |
·外部温度采集设计 | 第45-48页 |
·报警模块 | 第48-49页 |
·数据回读模块 | 第49-51页 |
·电源模块设计 | 第51-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
4 软件系统设计及实现 | 第54-63页 |
·嵌入式软件设计 | 第54-59页 |
·软件总体架构 | 第54-57页 |
·软件设计及功能实现 | 第57-59页 |
·上位机软件设计 | 第59-62页 |
·上位机用户界面 | 第60-61页 |
·上位机的各部分功能 | 第61-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
5 系统测试与结果分析 | 第63-67页 |
·电路硬件测试 | 第63-65页 |
·上位机软件测试 | 第65页 |
·本章小结 | 第65-67页 |
6 总结与展望 | 第67-69页 |
·论文工作总结 | 第67-68页 |
·展望 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-72页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文及所取得的研究成果 | 第72-73页 |
致谢 | 第73-74页 |