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基于ARM的主控制器自动检测系统的开发设计

摘要第1-4页
Abstract第4-8页
第一章 绪论第8-16页
   ·课题的研究背景及意义第8-10页
   ·主控制器量产自动检测系统概述第10-13页
     ·主控制器量产自动检测系统功能特点第10-11页
     ·自动检测系统国内外发展情况第11-12页
     ·自动检测系统的分类第12-13页
   ·本论文的主要工作第13-16页
     ·论文选题来源第13页
     ·论文主要研究内容第13-14页
     ·论文组织结构第14-16页
第二章 自动检测系统总体设计方案第16-32页
   ·方案详细设计第16-21页
     ·自动检测系统检测项及检测原理第16-21页
   ·设计准则第21-22页
   ·主控制器量产自动检测系统总体结构介绍第22-24页
   ·自动检测系统底座简介第24-27页
     ·自动检测系统控制、检测对象和结果第24-25页
     ·主控制器量产自动检测系统总体功能第25-26页
     ·自动检测系统底座的电路组成及其相应的功能第26-27页
   ·主要芯片选型第27-30页
     ·量产自动检测系统在性能方面对处理器的要求第27-28页
     ·ARM特点及本设计芯片选型第28-30页
   ·本章小结第30-32页
第三章 自动检测系统硬件电路设计第32-52页
   ·电源部分电路设计第32-38页
     ·24V滤波电路第33-34页
     ·系统电源设计方案第34-35页
     ·自动检测系统底座模块24V转5V电路第35-38页
     ·5V转3.3V电路设计第38页
   ·通讯MCU和控制MCU模块电路硬件设计第38-44页
     ·JTAG调试接口电路第40-41页
     ·振荡器电路第41-42页
     ·上电指示灯和通讯指示灯电路第42页
     ·电源监控和看门狗电路第42-44页
     ·通讯MCU电路设计第44页
   ·通信模块第44-47页
     ·完全接收设计第44-45页
     ·过压保护设计第45-46页
     ·可靠性设计第46页
     ·抗干扰设计第46-47页
   ·串并转换电路第47-50页
   ·自动检测系统底座PCB及自动检测系统底板实物第50-51页
   ·本章小结第51-52页
第四章 自动检测系统的固件设计第52-64页
   ·ARM程序开发环境第52页
   ·控制和通讯MCU功能及整体固件设计流程第52-54页
     ·两个MCU软件功能介绍第52-53页
     ·固件设计原则第53-54页
   ·控制MCU固件介绍第54-57页
     ·主程序流程图第54-55页
     ·部分功能函数说明第55-57页
   ·通讯MCU固件介绍第57-58页
     ·主程序流程图第58页
   ·上位机固件介绍第58-63页
     ·主函数固件第58-59页
     ·功能设置函数固件第59页
     ·检测函数固件第59-63页
   ·本章小结第63-64页
第五章 自动检测系统测试第64-70页
   ·测试平台介绍第64-66页
     ·辅助主控和上位机介绍第65-66页
   ·自动检测系统测试第66-69页
     ·功能测试第66页
     ·故障注入测试第66-69页
   ·本章小结第69-70页
第六章 总结与展望第70-74页
   ·总结第70-71页
   ·展望第71-74页
致谢第74-76页
参考文献第76-79页

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