| 摘要 | 第1-18页 |
| Abstract | 第18-22页 |
| 第一章 绪论 | 第22-45页 |
| ·研究背景 | 第22-24页 |
| ·国际光学薄膜软件 | 第24-37页 |
| ·Essential Macleod | 第24-26页 |
| ·TFCalc | 第26-27页 |
| ·FilmStar | 第27-29页 |
| ·Film Wizard / FilmMonitor / FilmEllipse | 第29-31页 |
| ·Optilayer / OptiChar / OptiRe | 第31-32页 |
| ·Multilayer | 第32-33页 |
| ·OnlyFilm / OpTeFilm | 第33-34页 |
| ·OpenFilters | 第34-35页 |
| ·Scout / Code / GenetiCode | 第35-36页 |
| ·TFCompanion | 第36-37页 |
| ·国内光学薄膜软件 | 第37-43页 |
| ·浙江大学Autofilm / Mass / CADOC | 第38-39页 |
| ·北京理工大学Filmaster / TFCAD | 第39-40页 |
| ·国防科技大学光电工程系光学薄膜软件 | 第40-42页 |
| ·中山大学SYSU_OTFLab光学薄膜设计软件 | 第42页 |
| ·国内其他单位光学薄膜软件技术研究情况 | 第42-43页 |
| ·论文的研究意义及主要工作 | 第43-45页 |
| 第二章 光学薄膜软件核心数学算法开发 | 第45-75页 |
| ·引言 | 第45-46页 |
| ·膜系光谱系数对膜层参数的一阶和二阶偏导数的解析计算模型 | 第46-60页 |
| ·膜系光谱系数的矩阵计算理论表达 | 第47-48页 |
| ·膜系光谱系数一阶和二阶偏导数的解析计算模型 | 第48-58页 |
| ·膜系光谱系数偏导数解析模型正确性的数值验证 | 第58-60页 |
| ·光谱系数偏导数解析模型在膜系设计中的快速实现算法 | 第60-67页 |
| ·膜系设计的数学建模 | 第61-62页 |
| ·评价函数梯度和Hesse矩阵的准确计算和快速实现算法 | 第62-64页 |
| ·评价函数梯度和Hesse矩阵的计算精度和时间的对比分析 | 第64-67页 |
| ·光谱系数偏导数解析模型在光学薄膜水听器灵敏度分析中的应用 | 第67-74页 |
| ·光学薄膜超声水听器的相关研究背景 | 第67-69页 |
| ·一种新型三棱锥形基片光学薄膜水听器的声光灵敏度分析 | 第69-73页 |
| ·结论 | 第73-74页 |
| ·本章小结 | 第74-75页 |
| 第三章 基于灵敏度控制的光学薄膜鲁棒设计方法 | 第75-100页 |
| ·光学薄膜鲁棒设计方法的提出和数学建模 | 第75-82页 |
| ·光学薄膜鲁棒设计的相关研究背景 | 第75-76页 |
| ·镀膜中的膜层参数误差及分布规律 | 第76-77页 |
| ·基于灵敏度控制思想的光学薄膜鲁棒设计的数学建模 | 第77-80页 |
| ·基于鲁棒膜系设计的斜入射高精度消偏振减反膜 | 第80-82页 |
| ·灵敏度控制思想在光学薄膜鲁棒设计中的快速实现算法及应用 | 第82-93页 |
| ·鲁棒膜系设计评价函数解析计算模型的适用条件 | 第82页 |
| ·灵敏度控制思想在鲁棒膜系设计中的快速实现算法 | 第82-85页 |
| ·灵敏度控制思想在鲁棒膜系设计中的应用 | 第85-92页 |
| ·结论 | 第92-93页 |
| ·一种低误差灵敏度的高精度激光偏振分光膜的鲁棒设计 | 第93-99页 |
| ·引言 | 第93页 |
| ·激光偏振分光膜的鲁棒膜系设计实验 | 第93-95页 |
| ·激光偏振分光膜的鲁棒膜系设计结果及讨论 | 第95-99页 |
| ·结论 | 第99页 |
| ·本章小结 | 第99-100页 |
| 第四章 薄膜材料光学参数表征技术中测量误差处理技术 | 第100-156页 |
| ·薄膜材料光学参数表征技术相关研究背景 | 第100-102页 |
| ·减小光度测量数据误差造成的薄膜光学参数表征不确定度的方法 | 第102-120页 |
| ·方法的技术思想及建立 | 第102-105页 |
| ·减小光度测量系统误差影响的方法及数值实验 | 第105-113页 |
| ·减小光度测量随机误差影响的方法及数值实验 | 第113-115页 |
| ·关于减小光度测量系统误差影响的方法普适性的进一步讨论 | 第115-119页 |
| ·结论 | 第119-120页 |
| ·减小椭偏测量数据误差造成的薄膜光学参数表征不确定度的方法 | 第120-154页 |
| ·基于椭偏测量的薄膜光学参数表征的技术思想及数学模型 | 第120-121页 |
| ·减小椭偏角测量系统误差影响的方法及数值实验 | 第121-141页 |
| ·减小椭偏角测量随机误差影响的方法及数值实验 | 第141-145页 |
| ·关于减小椭偏测量系统误差影响的方法普适性的进一步讨论 | 第145-153页 |
| ·结论 | 第153-154页 |
| ·本章小结 | 第154-156页 |
| 第五章 一种可靠的光学多层薄膜反向工程算法的开发 | 第156-191页 |
| ·光学薄膜反向工程的基本概念、技术特点和研究背景 | 第156-160页 |
| ·基本概念和技术特点 | 第156-158页 |
| ·薄膜反向工程相关研究背景 | 第158-160页 |
| ·光学多层薄膜反向工程中局部优化算法的性能分析 | 第160-170页 |
| ·引言 | 第160-161页 |
| ·各种局部优化算法的性能对比数值实验 | 第161-166页 |
| ·局部优化设计和反向工程数值实验的结果及讨论 | 第166-169页 |
| ·结论 | 第169-170页 |
| ·基于局部和全局一体化优化算法的多层膜反向工程算法的开发 | 第170-180页 |
| ·多层膜反向工程中局部优化算法的适用性讨论 | 第170-174页 |
| ·一种局部与全局一体化的多层膜反向工程算法的构造策略 | 第174页 |
| ·局部与全局一体化的多层膜反向工程算法的性能分析 | 第174-179页 |
| ·结论 | 第179-180页 |
| ·局部与全局一体化的多层膜反向工程算法的镀膜实验分析 | 第180-190页 |
| ·15层红光滤光片的反向工程实验分析 | 第180-183页 |
| ·31层近红外高反膜的反向工程实验分析 | 第183-185页 |
| ·34层的高精度激光偏振分光膜的反向工程实验分析 | 第185-187页 |
| ·某美国高反膜片的黑箱反向工程实验分析 | 第187-189页 |
| ·结论 | 第189-190页 |
| ·本章小结 | 第190-191页 |
| 第六章 结论与展望 | 第191-196页 |
| ·主要研究结论 | 第191-194页 |
| ·后续工作展望 | 第194-196页 |
| 致谢 | 第196-198页 |
| 参考文献 | 第198-217页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第217-218页 |
