DU显示组件专用测试设备的研究与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 缩写词表 | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| ·课题的目的及意义 | 第11-12页 |
| ·课题背景 | 第12页 |
| ·课题研究内容 | 第12-13页 |
| ·本文结构 | 第13-14页 |
| ·本章小结 | 第14-15页 |
| 第二章 自动测试系统的研究 | 第15-22页 |
| ·自动测试系统的定义 | 第15页 |
| ·自动测试系统的发展过程 | 第15-17页 |
| ·专用的自动测试系统—— ATS 的前期标准化 | 第16页 |
| ·模块化设计阶段——ATS 的第二次标准化 | 第16-17页 |
| ·开放结构设计阶段—— ATS 的工业标准化 | 第17页 |
| ·自动测试系统的结构 | 第17-19页 |
| ·自动测试系统的特点 | 第19-20页 |
| ·国外典型的自动测试系统 | 第20-21页 |
| ·早期的自动测试系统 | 第20-21页 |
| ·新一代的自动测试系统 | 第21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 需求分析及概要设计 | 第22-36页 |
| ·需求分析 | 第22-23页 |
| ·被测设备分析 | 第23-29页 |
| ·D U 结构分析 | 第23-25页 |
| ·D U 接口分析 | 第25-28页 |
| ·D U 功能分析 | 第28-29页 |
| ·系统设计的原则 | 第29-31页 |
| ·安全性 | 第29-30页 |
| ·可靠性 | 第30-31页 |
| ·标准化 | 第31页 |
| ·系统概要设计 | 第31-35页 |
| ·框架设计 | 第31-32页 |
| ·总线选择 | 第32-33页 |
| ·硬件选型 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 DU 组件的适配器设计 | 第36-54页 |
| ·供电电路 | 第36-38页 |
| ·直流 28V 供电电路 | 第36页 |
| ·直流 5V 供电电路 | 第36-37页 |
| ·隔离直流 5V 供电电路 | 第37-38页 |
| ·离散电路 | 第38-39页 |
| ·DU 标志输入 | 第38页 |
| ·Ping/Pong 标志输出 | 第38页 |
| ·EDI 标志输出 | 第38-39页 |
| ·亮度调节电路 | 第39-40页 |
| ·亮度调节电路 | 第39页 |
| ·远程亮度调节电路 | 第39-40页 |
| ·LAMP 反馈电路 | 第40页 |
| ·ARINC 429 反馈输出电路 | 第40-44页 |
| ·ARINC 429 总线介绍 | 第40-41页 |
| ·ARINC 429 的电气特性 | 第41-42页 |
| ·ARINC 429 数据格式 | 第42-43页 |
| ·ARINC 429 接口电路设计 | 第43-44页 |
| ·显示链路设计 | 第44-53页 |
| ·显示链路芯片描述 | 第44-45页 |
| ·显示链路芯片的管脚定义及作用 | 第45-49页 |
| ·显示链路发送电路设计 | 第49-52页 |
| ·显示链路接收电路设计 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 设备函数库 DLL 及 TPS 开发 | 第54-62页 |
| ·动态链接库 DLL | 第54-55页 |
| ·设备操作函数库的使用 | 第55-56页 |
| ·设备动态链接库的开发 | 第56-57页 |
| ·AM7968 发送芯片时序分析 | 第57-58页 |
| ·发送数据预处理 | 第58-59页 |
| ·高速 IO 卡的输入输出 | 第59页 |
| ·专用 TPS 设计 | 第59-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 DU 专用测试设备的测试 | 第62-69页 |
| ·硬件电路连接 | 第62页 |
| ·测试流程 | 第62-63页 |
| ·测试结果分析 | 第63-67页 |
| ·信号的指令分析 | 第63-64页 |
| ·信号的管脚分析 | 第64页 |
| ·数据提取比较 | 第64-67页 |
| ·本章小结 | 第67-69页 |
| 总结与展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 附件 | 第75页 |
