基于CCD技术的激光粒度仪研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
1 绪论 | 第8-14页 |
·颗粒粒度测试的意义 | 第8页 |
·颗粒测试的主要方法 | 第8-11页 |
·光散射法粒度检测技术研究现状和发展趋势 | 第11-13页 |
·国外发展现状 | 第11-12页 |
·国内已有产品和现状 | 第12页 |
·粒度检测技术的发展趋势 | 第12-13页 |
·本文研究的目的和主要内容 | 第13-14页 |
2 光散射法粒度测试理论及数值计算 | 第14-25页 |
·光散射的概述 | 第14-15页 |
·光散射现象 | 第14页 |
·颗粒的相关散射和不相关散射 | 第14-15页 |
·颗粒的单散射和复散射 | 第15页 |
·光散射理论 | 第15-19页 |
·米氏散射理论 | 第15-18页 |
·瑞利散射 | 第18页 |
·夫朗和费衍射理论 | 第18-19页 |
·Mie散射理论的数值计算 | 第19-24页 |
·散射系数的计算 | 第19-21页 |
·散射角函数的计算 | 第21页 |
·颗粒散射光能计算 | 第21-23页 |
·光能系数矩阵计算 | 第23-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
3 激光粒度仪系统研究 | 第25-38页 |
·激光粒度仪的基本结构和工作原理 | 第25-26页 |
·光学系统 | 第26-28页 |
·激光器 | 第26页 |
·扩束准直系统 | 第26-27页 |
·样品循环系统 | 第27页 |
·傅里叶透镜 | 第27页 |
·光电探测器 | 第27-28页 |
·光电探测器的设计方法 | 第28-35页 |
·基于CCD技术的探测器设计 | 第28-31页 |
·光电探测器环参数及颗粒粒级确定 | 第31-35页 |
·图像采集系统研究 | 第35-37页 |
·图像采集系统 | 第35-36页 |
·图像采集系统结构 | 第36-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
4 图像数据处理及粒度测试反演算法研究 | 第38-48页 |
·数字图像处理研究 | 第38-42页 |
·图像处理的主要内容 | 第38-39页 |
·图像预处理 | 第39-41页 |
·数字图像处理 | 第41-42页 |
·粒度测试反演算法研究 | 第42-46页 |
·反问题与不适定性 | 第42页 |
·非独立反演算法 | 第42-44页 |
·独立反演算法 | 第44-46页 |
·本章小结 | 第46-48页 |
5 粒度测试实验及结果分析 | 第48-53页 |
·实验装置 | 第48-49页 |
·测试实验与结果分析 | 第49-52页 |
·测试结果评价方法 | 第49-50页 |
·测试结果与分析 | 第50-52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
6 结论 | 第53-56页 |
参考文献 | 第56-59页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第59-60页 |
致谢 | 第60-62页 |