LXI自动测试系统集成技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-18页 |
| ·课题来源、研究目的与意义 | 第9页 |
| ·自动测试系统总线技术发展综述 | 第9-12页 |
| ·LXI技术概述 | 第12-14页 |
| ·从LAN到LXI | 第12页 |
| ·LXI发展现状 | 第12-13页 |
| ·LXI的特点 | 第13-14页 |
| ·自动测试系统软件技术综述 | 第14-17页 |
| ·仪器驱动程序发展概述 | 第14-15页 |
| ·测试应用程序发展概述 | 第15-17页 |
| ·主要研究内容与论文结构 | 第17-18页 |
| ·主要研究内容 | 第17页 |
| ·论文结构 | 第17-18页 |
| 第2章 LXI自动测试系统硬件集成 | 第18-30页 |
| ·LXI自动测试系统集成技术概述 | 第18-19页 |
| ·LXI自动测试系统体系结构 | 第19-26页 |
| ·LXI仪器概述 | 第20-21页 |
| ·LXI系统拓扑结构 | 第21-25页 |
| ·混合系统体系结构 | 第25-26页 |
| ·LXI演示系统组建方案 | 第26-29页 |
| ·LXI演示系统功能与需求分析 | 第26-27页 |
| ·体系结构的选择 | 第27-28页 |
| ·仪器设备的选择与集成 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 LXI-C类仪器开发实例 | 第30-49页 |
| ·LXI-C类函数发生器方案设计 | 第30-34页 |
| ·设计要求与技术指标 | 第30-31页 |
| ·硬件方案设计 | 第31-33页 |
| ·软件方案设计 | 第33-34页 |
| ·函数发生器硬件实现 | 第34-40页 |
| ·硬件结构总览 | 第34-35页 |
| ·嵌入式网络控制模块硬件实现 | 第35-37页 |
| ·功能电路硬件实现 | 第37-40页 |
| ·嵌入式驱动程序与调试面板程序开发 | 第40-43页 |
| ·嵌入式驱动程序结构总览 | 第40页 |
| ·嵌入式程序的交互式开发环境 | 第40-41页 |
| ·SCPI指令解析函数设计 | 第41-42页 |
| ·调试软面板程序 | 第42-43页 |
| ·LXI-C类软件接口的实现 | 第43-48页 |
| ·LAN配置 | 第43-44页 |
| ·基于RPC技术的仪器发现 | 第44-47页 |
| ·仪器网页的开发 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第4章 LXI自动测试系统软件开发 | 第49-65页 |
| ·LXI自动测试系统软件开发环境与关键技术 | 第49-51页 |
| ·软件开发环境的选择 | 第49-50页 |
| ·软件开发的关键技术 | 第50-51页 |
| ·LXI演示系统测试应用程序设计 | 第51-58页 |
| ·测试应用程序设计目标与要求 | 第51-52页 |
| ·测试应用程序软件框架 | 第52-53页 |
| ·用户界面的设计与开发 | 第53-55页 |
| ·信息管理模块设计 | 第55-57页 |
| ·流程调度与执行模块设计 | 第57-58页 |
| ·IVI-COM驱动程序开发实例 | 第58-64页 |
| ·驱动程序框架的搭建 | 第58-61页 |
| ·关键方法和属性的实现 | 第61-63页 |
| ·驱动安装程序的开发 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第5章 调试与实验 | 第65-76页 |
| ·LXI-C类函数发生器的调试 | 第65-71页 |
| ·调试方案 | 第65-66页 |
| ·参考电压扫描电路的调试 | 第66-68页 |
| ·信号相位稳定性的提高 | 第68页 |
| ·正弦信号幅频特性的补偿 | 第68-71页 |
| ·LXI演示系统的调试 | 第71-73页 |
| ·演示系统调试方案 | 第71-72页 |
| ·调试中遇到的问题与解决方法 | 第72-73页 |
| ·仪器互换性实验 | 第73-75页 |
| ·IVI-COM驱动程序互换原理 | 第73-74页 |
| ·互换性实验步骤及结果 | 第74-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 结论 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
