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IP质量评估技术的研究

第一章 前言第1-20页
   ·SoC的出现第13-14页
   ·集成电路与IP核设计技术第14-15页
   ·IP产业的发展状况及面临的挑战第15-18页
     ·IP产业的发展状况第15-17页
       ·国际IP产业发展状况第16页
       ·国内IP产业的发展状况第16-17页
     ·IP产业面临的挑战第17-18页
   ·课题来源、工作内容、目的及意义第18-19页
     ·课题来源第18页
     ·课题工作内容第18页
     ·课题目的第18-19页
     ·课题意义第19页
   ·论文结构第19-20页
第二章 SOC设计中的IP技术第20-34页
   ·SOC技术及相关理论第20-23页
     ·SOC的基本概念第20页
     ·SOC技术及相关理论第20-21页
     ·基于IP重用的设计方法学第21-22页
     ·基于IP的SOC设计流程第22-23页
   ·IP技术及相关理论第23-28页
     ·IP的基本概念第23页
     ·IP技术及相关理论第23-28页
       ·IP的设计流程第23-26页
       ·IP的验证第26-28页
   ·运用可重用IP核进行系统集成第28-31页
     ·IP集成遇到的问题第28-29页
     ·IP模块的选择第29-31页
       ·软核IP的选择第29-30页
       ·硬核IP的选择第30-31页
   ·IP模块的质量评估第31-33页
     ·概述第31页
     ·IP质量的评估第31-32页
     ·IP质量评估的研究现状第32-33页
   ·小结第33-34页
第三章 IP质量评估体系结构第34-50页
   ·引言第34页
   ·IP质量的定义第34-36页
     ·质量的定义第34-35页
     ·IP质量的定义第35页
     ·IP质量的质量特性第35-36页
   ·IP质量评测模型第36-44页
     ·IP质量评测现状及存在的问题第36-38页
       ·IP质量评测现状第36-37页
       ·存在的问题第37-38页
     ·改进的IP质量评测模型第38-43页
       ·IP质量评测模型的研究对象第38-39页
       ·IP评测模型的建立第39-43页
     ·IP评测模型的使用第43-44页
   ·IP质量评测方法第44-46页
     ·测试第44-45页
     ·度量第45页
     ·评估第45-46页
   ·IP质量评估体系结构第46-49页
     ·IP质量评估体系第46-47页
     ·IP质量评估流程第47-48页
     ·IP质量评估模型第48-49页
   ·小结第49-50页
第四章 IP质量评估平台第50-72页
   ·引言第50页
   ·IP质量评估平台的环境第50-51页
   ·IP认证平台第51-55页
     ·概述第51-52页
     ·IP认证平台系统结构第52-55页
     ·数据库技术第55页
   ·IP评估平台第55-71页
     ·IP质量评估平台基本框架第55-56页
     ·商业评估工具第56-57页
     ·平台目录结构第57-59页
     ·IP质量评估平台的基本模块第59-66页
       ·代码评估模块第59-62页
       ·验证评估模块第62-64页
       ·设计评估模块第64-65页
       ·IP封装模块第65-66页
     ·IP质量评估平台的实现第66-70页
     ·IP质量评估的具体应用-IIC质量评估第70-71页
   ·小结第71-72页
第五章 IP可重用性评估第72-87页
   ·IP可重用性的重要性第72-73页
     ·SoC成功的关键因素第72-73页
     ·驱动重用的成本模型第73页
   ·IP可重用性的定义第73页
   ·IP可重用性的质量因素第73-75页
     ·IP可重用性质量因素第73-74页
     ·IP的可用性与IP的可重用性第74-75页
   ·IP可重用性度量的技术基础第75-77页
     ·影响IP可重用性的关键因素第75-76页
     ·IP可进行重用的部分和IP重用类型第76页
     ·重用的代价和时机第76-77页
   ·IP可重用性度量第77-86页
     ·参数化设计与可重用性测量第78-83页
       ·参数化系统设计第78-79页
       ·参数化总线桥的设计第79-82页
       ·可重用性的定量测量第82-83页
     ·IP软核可重用性评估第83-86页
       ·IP重用性评估研究现状第83-85页
       ·改进的IP可重用性评估方法第85-86页
   ·小结第86-87页
第六章 结束语第87-88页
参考文献第88-92页

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