| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 英文摘要 | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-18页 |
| 1．1 研究复杂环境中绝缘子交流闪络特性及校正方法的目的和意义 | 第10-13页 |
| 1．2 复杂环境中绝缘子交流闪络特性及校正方法研究的现状 | 第13-16页 |
| 1．3 本文研究的主要内容 | 第16-18页 |
| 2 酸雨酸雾环境中绝缘子的交流闪络特性研究 | 第18-37页 |
| 2．1 酸性湿沉降污染及特征 | 第18-21页 |
| 2．2 酸性湿沉降的电导率与pH值的关系 | 第21-23页 |
| 2．3 酸雨酸雾环境中绝缘子的交流闪络特性试验研究方法 | 第23-26页 |
| 2．4 酸雨环境中清洁绝缘子的交流闪络特性 | 第26-28页 |
| 2．5 酸雾环境中染污绝缘子的交流闪络特性 | 第28-35页 |
| 2．5．1 人工污秽绝缘子的交流闪络电压与pH值的关系 | 第28-33页 |
| 2．5．2 自然污秽绝缘子的交流闪络电压与pH值的关系 | 第33-34页 |
| 2．5．3 酸性湿沉降对绝缘子表面湿润污秽电导率的影响 | 第34-35页 |
| 2．6 小结 | 第35-37页 |
| 3 覆冰、低气压和污秽共存环境中绝缘子的交流闪络特性研究 | 第37-64页 |
| 3．1 绝缘子覆冰的类型和影响因素 | 第37-39页 |
| 3．2 试验研究方法 | 第39-41页 |
| 3．3 在覆冰、低气压和污秽共存环境中覆冰量对绝缘子交流闪络电压的影响 | 第41-49页 |
| 3．4 在覆冰、低气压和污秽共存环境中低气压对绝缘子交流闪络电压的影响 | 第49-55页 |
| 3．5 在覆冰、低气压和污秽共存环境中污秽对绝缘子交流闪络电压的影响 | 第55-60页 |
| 3．6 雨凇与雾凇覆冰条件下绝缘子最低闪络电压的比较 | 第60-62页 |
| 3．7 小结 | 第62-64页 |
| 4 复杂环境中绝缘子交流闪络电压的校正及绝缘子串片数的选择 | 第64-78页 |
| 4．1 覆冰和低气压对绝缘子表面交流放电物理过程的影响 | 第64-65页 |
| 4．1．1 覆冰对绝缘子表面放电物理过程的影响 | 第64-65页 |
| 4．1．2 低气压对污秽绝缘子表面放电过程的影响 | 第65页 |
| 4．2 复杂环境中绝缘子交流闪络电压的校正 | 第65-69页 |
| 4．2．1 雨凇覆冰绝缘子 | 第65-69页 |
| 4．2．2 雾凇覆冰绝缘子 | 第69页 |
| 4．3 复杂环境中绝缘子自然覆冰试验研究 | 第69-73页 |
| 4．3．1 现场自然覆冰试验 | 第70-71页 |
| 4．3．2 自然观冰站雪水及污秽绝缘子的实验室人工覆冰试验 | 第71-73页 |
| 4．4 复杂环境中绝缘子串片数的选择 | 第73-77页 |
| 4．4．1 覆冰地区绝缘子串片数的选择 | 第73页 |
| 4．4．2 高海拔地区绝缘子串片数的选择 | 第73-76页 |
| 4．4．3 覆冰、低气压和污秽共存环境中绝缘子串片数的选择 | 第76-77页 |
| 4．5 小结 | 第77-78页 |
| 5 大爬距柱头悬式绝缘子沿面电场分布特性的仿真计算及分析 | 第78-99页 |
| 5．1 变密度线电荷复数模拟电荷法的基本原理 | 第78-85页 |
| 5．1．1 复数模拟电荷法的基本原理 | 第78-79页 |
| 5．1．2 复数模拟电荷设置的优化方法 | 第79-81页 |
| 5．1．3 变密度线电荷的优化方法 | 第81-84页 |
| 5．1．4 计算步骤 | 第84-85页 |
| 5．2 交流和陡波电压下大爬距柱头悬式绝缘子沿面电场分布特性的仿真计算 | 第85-90页 |
| 5．2．1 交流电压下的数学模型 | 第85-88页 |
| 5．2．2 陡波电压下的数学模型 | 第88-90页 |
| 5．3 大爬距柱头悬式绝缘子造型的沿面电场分布特性 | 第90-97页 |
| 5．3．1 交流电压下沿面电场分布特性的分析 | 第90-94页 |
| 5．3．2 陡波电压下沿面电场分布特性的分析 | 第94-97页 |
| 5．4 小结 | 第97-99页 |
| 6 结论 | 第99-101页 |
| 致谢 | 第101-102页 |
| 参考文献 | 第102-111页 |
| 附录 | 第111-116页 |
| A、 各种电荷的电位及电场强度计算公式 | 第111-115页 |
| B、 作者在攻读博士学位期间发表的相关论文目录 | 第115-116页 |
| C、 作者在攻读博士学位期间参加的科研项目及获奖情况 | 第116页 |
