智能卡抗干扰测试系统的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·课题意义 | 第9-10页 |
| ·现状分析 | 第10-11页 |
| ·主要工作 | 第11-12页 |
| ·本文结构 | 第12-13页 |
| 第二章 接触式智能卡概述 | 第13-23页 |
| ·智能卡概述 | 第13-17页 |
| ·智能卡的发展历程和特点 | 第13-14页 |
| ·智能卡的基本构成 | 第14-16页 |
| ·智能卡安全 | 第16-17页 |
| ·智能卡通用测试 | 第17-23页 |
| ·基于生命周期的测试流程 | 第17-19页 |
| ·基于结构体系的测试过程 | 第19-21页 |
| ·针对测试目的测试分类 | 第21-23页 |
| 第三章 智能卡可靠性评估方法和测试方法 | 第23-39页 |
| ·接触式智能卡可靠性评估方法 | 第23-29页 |
| ·系统可靠性评估方法 | 第23-24页 |
| ·硬件可靠性评估方法 | 第24-27页 |
| ·软件可靠性评估方法 | 第27-29页 |
| ·故障注入方法和技术研究 | 第29-35页 |
| ·故障注入原理和实验过程 | 第29-30页 |
| ·故障注入方法 | 第30-32页 |
| ·接触式智能卡故障注入探析 | 第32-35页 |
| ·旁路攻击 | 第35-39页 |
| ·旁路攻击的基本概念和特点 | 第35-36页 |
| ·旁路攻击分类 | 第36-38页 |
| ·测试系统设计依据 | 第38-39页 |
| 第四章 接触式智能卡抗干扰测试系统设计 | 第39-57页 |
| ·系统整体设计 | 第39-41页 |
| ·测试系统设计背景 | 第39页 |
| ·测试系统总体方案 | 第39-41页 |
| ·接触式故障注入器设计 | 第41-46页 |
| ·硬件总体设计 | 第42-43页 |
| ·单元模块硬件设计 | 第43-45页 |
| ·MCU程序设计 | 第45-46页 |
| ·故障注入器与主机间的串行通信协议 | 第46-48页 |
| ·接触式抗干扰测试系统的软件设计 | 第48-51页 |
| ·信号中断测试模块 | 第49-50页 |
| ·供电稳定性测试 | 第50-51页 |
| ·触点磨损测试 | 第51页 |
| ·接触式抗干扰测试系统的测试流程 | 第51-52页 |
| ·自动插拔卡的机械装置设计 | 第52-57页 |
| 第五章 测试过程和结果分析 | 第57-72页 |
| ·测试说明 | 第57-59页 |
| ·故障注入测试 | 第59-69页 |
| ·信号中断测试 | 第59-62页 |
| ·供电稳定性测试 | 第62-66页 |
| ·触点磨损测试 | 第66-69页 |
| ·电磁辐射干扰测试 | 第69-72页 |
| 第六章 工作总结与展望 | 第72-74页 |
| ·研究工作总结 | 第72页 |
| ·未来的研究内容展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第77页 |
