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高分辨电感耦合等离子体质谱在高纯金属分析中的应用研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-12页
第一章 绪论第12-32页
   ·ICP-MS技术及发展第12-23页
     ·ICP-MS仪器结构及原理第12-14页
     ·样品制备第14页
     ·进样方法第14-19页
     ·ICP-MS干扰及其校正方法第19-21页
     ·ICP-MS的发展及应用第21-23页
   ·HR-ICP-MS分析技术第23-28页
     ·HR-ICP-MS仪器结构及原理第23-24页
     ·HR-ICP-MS的应用第24-28页
   ·本论文的研究目的和主要研究内容第28-32页
     ·研究目的第28-29页
     ·主要研究内容第29-32页
第二章 高分辨质谱法测定高纯氧化锌中的杂质元素第32-49页
   ·引言第32页
   ·实验部分第32-34页
     ·仪器和试剂第32-33页
     ·质谱仪工作参数第33页
     ·样品处理第33-34页
   ·结果与讨论第34-47页
     ·样品消解酸的选择第34页
     ·定性扫描第34页
     ·质谱干扰第34-43页
     ·非谱干扰第43-45页
     ·标准物质NIST SRM 728的分析第45-46页
     ·方法的检出限第46-47页
     ·样品分析第47页
   ·小结第47-49页
第三章 高纯二氧化钛中痕量元素的高分辨质谱分析第49-63页
   ·引言第49页
   ·实验部分第49-51页
     ·仪器及操作条件第49-50页
     ·标准溶液及试剂第50页
     ·样品处理第50-51页
   ·结果与讨论第51-62页
     ·仪器测定条件的优化第51页
     ·同位素的选择和质谱干扰第51-57页
     ·基体效应第57-58页
     ·检出限、分析精度和回收率第58-61页
     ·样品分析第61-62页
   ·小结第62-63页
第四章 高分辨质谱法直接测定高纯镓中的痕量元素第63-75页
   ·引言第63页
   ·实验部分第63-65页
     ·仪器和试剂第63-64页
     ·质谱仪工作参数第64页
     ·样品处理第64页
     ·内标混合液的引入第64-65页
   ·结果与讨论第65-73页
     ·仪器测定条件的优化第65页
     ·同位素的选择和质谱干扰第65-68页
     ·基体效应第68-69页
     ·物理效应第69-71页
     ·检出限、分析精度和回收率第71-72页
     ·样品分析第72-73页
   ·小结第73-75页
第五章 高纯金属钴中痕量杂质的高分辨质谱分析第75-85页
   ·引言第75页
   ·实验部分第75-78页
     ·仪器第75-77页
     ·标准与试剂第77-78页
     ·样品的处理第78页
     ·内标混合液的引入第78页
   ·结果与讨论第78-84页
     ·质谱干扰第78-80页
     ·非谱干扰第80-81页
     ·检出限、精密度和加标回收率第81-83页
     ·实际样品分析第83-84页
   ·小结第84-85页
第六章 有机酸在高分辨质谱中基体效应的研究第85-98页
   ·引言第85页
   ·实验部分第85-86页
     ·主要仪器和试剂第85-86页
     ·仪器工作参数第86页
     ·实验方法第86页
   ·结果与讨论第86-97页
     ·有机酸的基体效应第86-89页
     ·仪器参数与有机酸增强效应的关系第89-94页
     ·有机酸增强效应的机制探讨第94-95页
     ·检出限第95-96页
     ·分析应用第96-97页
   ·小结第97-98页
第七章 结论与展望第98-103页
   ·主要结论第98-102页
     ·高纯氧化锌高分辨质谱分析第98-99页
     ·高纯二氧化钛高分辨质谱分析第99页
     ·高纯金属镓高分辨质谱分析第99-100页
     ·高纯金属钴高分辨质谱分析第100-101页
     ·有机酸高分辨质谱基体效应第101-102页
   ·展望第102-103页
参考文献第103-119页
致谢第119-120页
攻读学位期间主要的研究成果目录第120-121页

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