USB2.0物理层接口芯片的数字设计和芯片验证
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
目录 | 第7-9页 |
第1章 绪论 | 第9-15页 |
·课题研究目的与意义 | 第9-10页 |
·USB2.0技术的国内外发展现状 | 第10-13页 |
·USB协议的发展现状 | 第10页 |
·USB2.0的发展现状 | 第10-12页 |
·USB物理层接口芯片发展现状 | 第12-13页 |
·本文的研究工作及与论文的主要内容 | 第13页 |
·本章小结 | 第13-15页 |
第2章 USB PHY体系结构和设计要求分析 | 第15-22页 |
·UTMI协议介绍 | 第15-17页 |
·UTMI功能模块分析 | 第15-16页 |
·USB2.0物理层接口芯片的结构 | 第16-17页 |
·UTMI协议时序介绍 | 第17-18页 |
·UTMI数据发送时序分析 | 第17页 |
·UTMI数据接收时序分析 | 第17-18页 |
·USB高速握手时序分析 | 第18页 |
·USB PHY信号列表分析 | 第18-21页 |
·本章小结 | 第21-22页 |
第3章 USB2.0物理层接口芯片RTL级设计 | 第22-42页 |
·USB PHY数字控制逻辑的结构 | 第23-36页 |
·寄存器配置模块分析与设计 | 第23-28页 |
·USB PHY高速数据发送模块 | 第28-36页 |
·数字逻辑功能验证 | 第36-41页 |
·验证方法 | 第36-37页 |
·验证步骤结果分析 | 第37-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第4章 USB PHY芯片验证系统的搭建 | 第42-55页 |
·测试母板的FPGA芯片 | 第42页 |
·USB PHY芯片 | 第42-43页 |
·FPGA测试系统设计 | 第43-54页 |
·FPGA验证系统的模块划分 | 第43-44页 |
·FPGA测试系统逻辑设计 | 第44-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第5章 USB PHY芯片验证及结果分析 | 第55-67页 |
·USB PHY芯片验证方案 | 第55-58页 |
·信号完整性测试结果分析 | 第58-60页 |
·数字功能验证 | 第60-66页 |
·接口时序验证结果分析 | 第60-64页 |
·基于FPGA的Signal TapⅡ验证 | 第64-66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
第6章 总结和展望 | 第67-69页 |
·本文总结 | 第67页 |
·工作展望 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-71页 |
致谢 | 第71-72页 |
附录A:USB PHY测试子板电源和晶振原理图 | 第72-73页 |
附录B:USB PHY测试子板连接器原理图 | 第73-74页 |
附录C:USB PHY测试子板芯片原理图 | 第74-75页 |
附录D:USB PHY测试眼图报告 | 第75-78页 |
附录E:FPGA测试系统部分Verilog代码 | 第78-84页 |