| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4页 |
| 前言 | 第7-9页 |
| 第一章 文献综述 | 第9-29页 |
| 1.1 重金属污染及检测 | 第9-10页 |
| 1.1.1 重金属污染的现状 | 第9-10页 |
| 1.1.2 重金属离子检测 | 第10页 |
| 1.2 荧光分析法和荧光材料概述 | 第10-14页 |
| 1.2.1 荧光分析法简介 | 第10-11页 |
| 1.2.2 荧光材料概述 | 第11-14页 |
| 1.3 碳点(CDs)的研究现状 | 第14-20页 |
| 1.3.1 碳点的制备 | 第14-16页 |
| 1.3.2 碳点的性质 | 第16-17页 |
| 1.3.3 碳点的应用 | 第17-20页 |
| 1.4 半导体量子点(QDs)的研究现状 | 第20-24页 |
| 1.4.1 半导体量子点的制备方法 | 第20-22页 |
| 1.4.2 半导体量子点的性质 | 第22页 |
| 1.4.3 半导体量子点的应用 | 第22-24页 |
| 1.5 比率型荧光探针的研究现状 | 第24-26页 |
| 1.5.1 比率型荧光探针的设计原理 | 第24-25页 |
| 1.5.2 比率型荧光探针的应用 | 第25-26页 |
| 1.6 本课题的主要研究内容 | 第26-29页 |
| 第二章 比率型荧光探针CdSe@SiO_2-CDs设计及其对Fe~(3+)和PA的检测应用 | 第29-45页 |
| 2.1 引言 | 第29-31页 |
| 2.2 实验材料与方法 | 第31-33页 |
| 2.2.1 实验材料与仪器 | 第31-32页 |
| 2.2.2 荧光碳点的合成 | 第32页 |
| 2.2.3 CdSe掺杂二氧化硅纳米粒子的制备 | 第32页 |
| 2.2.4 比率型荧光探针CdSe@SiO_2-CDs的制备 | 第32页 |
| 2.2.5 Fe~(3+)对比率型荧光探针CdSe@SiO_2-CDs的荧光淬灭 | 第32-33页 |
| 2.2.6 PA对CdSe@SiO_2-CDs/Fe~(3+)复合体系的荧光恢复 | 第33页 |
| 2.2.7 实际水样品检测 | 第33页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第33-43页 |
| 2.3.1 比率型荧光探针CdSe@SiO_2-CDs的表征 | 第33-37页 |
| 2.3.2 比率型荧光探针CdSe@SiO_2-CDs的检测原理 | 第37-39页 |
| 2.3.3 铁离子对CdSe@SiO_2-CDs的荧光淬灭分析 | 第39-40页 |
| 2.3.4 植酸对CdSe@SiO_2-CDs/Fe~(3+)的荧光恢复分析 | 第40-42页 |
| 2.3.5 选择性分析 | 第42-43页 |
| 2.3.6 实际水体系应用 | 第43页 |
| 2.4 小结 | 第43-45页 |
| 第三章 比率型荧光探针CDs@SiO_2-CdTe的构建及对Cu~(2+)的可视化检测 | 第45-63页 |
| 3.1 引言 | 第45-47页 |
| 3.2 实验材料与方法 | 第47-49页 |
| 3.2.1 实验材料与仪器 | 第47页 |
| 3.2.2 荧光碳点的合成 | 第47-48页 |
| 3.2.3 CDs@SiO_2纳米粒子的制备 | 第48页 |
| 3.2.4 比率型荧光探针CDs@SiO_2-CdTe的制备 | 第48页 |
| 3.2.5 Cu~(2+)对比率型荧光探针CDs@SiO_2-CdTe的荧光淬灭 | 第48页 |
| 3.2.6 实际水样品检测 | 第48-49页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第49-61页 |
| 3.3.1 比率型荧光探针CDs@SiO_2-CdTe的表征 | 第49-53页 |
| 3.3.2 检测条件的优化 | 第53-56页 |
| 3.3.3 比率型荧光探针CDs@SiO_2-CdTe的检测原理 | 第56页 |
| 3.3.4 铜离子对CDs@SiO_2-CdTe的荧光淬灭分析 | 第56-58页 |
| 3.3.5 选择性分析 | 第58-59页 |
| 3.3.6 可视化检测应用 | 第59-60页 |
| 3.3.7 实际水体系应用 | 第60-61页 |
| 3.4 小结 | 第61-63页 |
| 第四章 结论与展望 | 第63-67页 |
| 4.1 结论 | 第63-64页 |
| 4.2 主要创新点 | 第64-65页 |
| 4.3 展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-77页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
