外延单晶四氧化三铁薄膜的磁输运研究
| 目录 | 第2-3页 |
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 前言 | 第5-12页 |
| 参考文献 | 第10-12页 |
| 第二章 实验设备 | 第12-25页 |
| §2.1 制备薄膜样品的设备 | 第12-13页 |
| §2.2 反射式高能电子衍射 | 第13-14页 |
| §2.3 原子力显微镜 | 第14-16页 |
| §2.4 X射线衍射原理 | 第16-17页 |
| §2.5 扫描电子显微镜原理 | 第17-18页 |
| §2.6 表面磁光kerr效应 | 第18-20页 |
| §2.7 旋转磁场磁光克尔效应 | 第20-22页 |
| §2.8 综合物性测量系统 | 第22-24页 |
| 参考文献 | 第24-25页 |
| 第三章 Fe_3O_4薄膜的制备、表征和磁性测量 | 第25-34页 |
| §3.1 制备Fe_3O_4薄膜 | 第25-26页 |
| §3.2 AFM测定薄膜表面平整度 | 第26-27页 |
| §3.3 XRD分析Fe_3O_4薄膜结构 | 第27-28页 |
| §3.4 电阻率随温度的变化 | 第28-29页 |
| §3.5 SEM观测Fe_3O_4薄膜横截面 | 第29-30页 |
| §3.6 Fe_3O_4薄膜磁性与磁各向异性 | 第30-32页 |
| §3.7 小结 | 第32-33页 |
| 参考文献 | 第33-34页 |
| 第四章 Fe_3O_4薄膜的磁输运测量 | 第34-54页 |
| §4.1 前言 | 第34页 |
| §4.2 磁电阻率比率随温度的变化关系 | 第34-36页 |
| §4.3 反常Hall电阻率随温度的变化关系 | 第36-39页 |
| §4.4 各项异性磁电阻率和面内Hall效应 | 第39-43页 |
| §4.5 现象学模型解释 | 第43-46页 |
| §4.6 各向异性磁电阻中四度对称性起源探索 | 第46-50页 |
| §4.7 小结 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
