基于模糊聚类与关联分析的备件分类与预测研究--以某半导体封装测试公司为例
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.1 备件分类相关研究 | 第12-13页 |
| 1.2.2 需求预测相关研究 | 第13-14页 |
| 1.3 论文内容与框架 | 第14-16页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第14-15页 |
| 1.3.2 研究框架 | 第15-16页 |
| 第2章 数据挖掘相关技术概述 | 第16-22页 |
| 2.1 数据挖掘相关理论 | 第16-18页 |
| 2.1.1 数据挖掘的概念 | 第16页 |
| 2.1.2 数据挖掘的功能 | 第16-17页 |
| 2.1.3 数据挖掘的过程模型 | 第17-18页 |
| 2.2 基于FCM的模糊聚类分析 | 第18-20页 |
| 2.2.1 模糊聚类的概念 | 第18-19页 |
| 2.2.2 FCM算法的步骤 | 第19-20页 |
| 2.3 基于Apriori的关联规则分析 | 第20-22页 |
| 2.3.1 关联分析的概念 | 第20-21页 |
| 2.3.2 Apriori算法的步骤 | 第21-22页 |
| 第3章 封装测试企业备件管理的数据挖掘业务分析 | 第22-29页 |
| 3.1 半导体封装测试简介 | 第22-24页 |
| 3.1.1 半导体封装测试工艺流程分析 | 第22-23页 |
| 3.1.2 半导体封装测试设备备件特点介绍 | 第23-24页 |
| 3.2 封装测试企业备件管理业务分析 | 第24-28页 |
| 3.2.1 管理流程分析 | 第24-25页 |
| 3.2.2 管理方法分析 | 第25-26页 |
| 3.2.3 存在问题分析 | 第26-28页 |
| 3.3 数据挖掘流程设计 | 第28-29页 |
| 第4章 T公司备件管理的数据挖掘过程研究 | 第29-51页 |
| 4.1 T公司备件管理系统的数据组织与预处理 | 第29-31页 |
| 4.1.1 数据组织 | 第29-30页 |
| 4.1.2 数据预处理 | 第30-31页 |
| 4.2 T公司备件的模糊聚类分析 | 第31-39页 |
| 4.2.1 聚类指标选取 | 第31-35页 |
| 4.2.2 聚类趋势判定 | 第35-36页 |
| 4.2.3 聚类参数设定 | 第36-37页 |
| 4.2.4 FCM在MATLAB中的实现 | 第37-38页 |
| 4.2.5 聚类结果分析 | 第38-39页 |
| 4.3 T公司备件的需求预测分析 | 第39-51页 |
| 4.3.1 预测方法选择 | 第39-44页 |
| 4.3.2 连续型需求的预测 | 第44-48页 |
| 4.3.3 间断型需求的预测 | 第48-51页 |
| 第5章 备件管理信息系统数据挖掘模块的设计与开发 | 第51-59页 |
| 5.1 系统分析与设计 | 第51-56页 |
| 5.1.1 系统概述 | 第51-52页 |
| 5.1.2 系统功能设计 | 第52-53页 |
| 5.1.3 数据表设计 | 第53-56页 |
| 5.2 系统功能开发 | 第56-59页 |
| 5.2.1 系统的技术架构 | 第56页 |
| 5.2.2 开发环境介绍 | 第56-59页 |
| 结论 | 第59-61页 |
| 1、研究总结 | 第59页 |
| 2、研究局限性及未来研究展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 附录1 | 第66-71页 |
| 附录2 | 第71-73页 |
