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基于激光成像的六氟化硫泄漏检测系统—扫描及激光器控制部分的研究

摘要第2-3页
ABSTRACT第3-4页
第一章 绪论第8-14页
    1.1 六氟化硫气体泄漏检测第8-11页
        1.1.1 六氟化硫气体简介第8-9页
        1.1.2 六氟化硫气体泄漏问题第9-10页
        1.1.3 六氟化硫气体泄漏监测方法以及研究现状第10-11页
    1.2 基于激光成像的六氟化硫气体泄漏检测方法第11-12页
    1.3 本文的主要工作和章节安排第12-14页
第二章 系统设计方案第14-27页
    2.1 概述第14页
    2.2 激光成像的原理第14-16页
    2.3 系统结构与功能第16-17页
    2.4 激光器第17-18页
    2.5 光路设计第18-20页
        2.5.1 光路总体设计第18-19页
        2.5.2 光束分离设计第19-20页
    2.6 红外探测器第20-22页
        2.6.1 探测器材料及冷却方法第20-21页
        2.6.2 系统红外探测器选型第21-22页
    2.7 传感器信号调理第22-24页
        2.7.1 传感器信号前置处理和放大第22-23页
        2.7.2 VGA 放大电路第23-24页
    2.8 高速数据采集系统第24-27页
第三章 激光扫描系统设计第27-46页
    3.1 概述第27页
    3.2 振镜扫描系统设计第27-29页
        3.2.1 振镜扫描原理第27-29页
        3.2.2 振镜扫描系统控制第29页
    3.3 激光器控制电路第29-30页
    3.4 激光扫描控制板设计第30-46页
        3.4.1 激光扫描控制板主控芯片C8051F040第32-33页
        3.4.2 可编程逻辑器件CPLD第33-35页
        3.4.3 扫描同步控制电路设计第35-38页
        3.4.4 激光功率控制电路设计第38-39页
        3.4.5 激光器和机箱的温度控制电路设计第39-44页
        3.4.6 振镜扫描异常监测和激光安全输出电路设计第44-46页
第四章 软件调试与实验结果第46-70页
    4.1 概述第46页
    4.2 实时操作系统uC/OSII 简介第46-49页
    4.3 uC/OSII 在C8051F040 上的移植第49-52页
    4.4 编写C8051F040 程序第52-56页
    4.5 编写CPLD 程序第56-57页
    4.6 系统 I2C 总线通信第57-62页
        4.6.1 I2C 总线的工作原理第57-59页
        4.6.2 F040 种的 I2C 总线(SMBus0)第59-61页
        4.6.3 激光扫描板中 I2C 应用第61-62页
    4.7 实验结果PC 显示第62-70页
第五章 结论与展望第70-72页
    5.1 结论第70页
    5.2 展望第70-72页
参考文献第72-74页
致谢第74-75页
攻读学位期间发表的学术论文第75-77页

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