| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 1 概述 | 第13-15页 |
| 2 闪存器件原理 | 第15-46页 |
| 2.1 闪存类型及应用 | 第15-21页 |
| 2.2 快闪存储器的操作模式 | 第21-26页 |
| 2.3 多级单元闪存(MLC)技术 | 第26-30页 |
| 2.4 闪存的测试流程 | 第30-46页 |
| 3 TTR 工作原理 | 第46-51页 |
| 3.1 TTR 的方法 | 第46-48页 |
| 3.2 目前的测试 Pattern 及 DPM 水平 | 第48-51页 |
| 4 PBI 分级测试TTR 可行性研究 | 第51-59页 |
| 4.1 TTR 研究对象 | 第51-52页 |
| 4.2 1P/E 可行性分析 | 第52-53页 |
| 4.3 Partial 1PE 可行性分析 | 第53-58页 |
| 4.4 Partial 1P/E TTR 风险预估 | 第58-59页 |
| 5 试验过程 | 第59-64页 |
| 5.1 实验环境要求 | 第59页 |
| 5.2 搭建实验环境 | 第59-60页 |
| 5.3 Pattern 设计与验证 | 第60页 |
| 5.4 Screen 设计与验证 | 第60-62页 |
| 5.5 实验结果分析 | 第62-64页 |
| 6 总结 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第71页 |