| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 论文研究的目的和意义 | 第9-12页 |
| 1.2 SF_6气体密度继电器校验仪国内外发展现状 | 第12-14页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第二章 SF_6气体密度继电器检测理论 | 第15-26页 |
| 2.1 SF_6气体密度继电器工作原理 | 第15-18页 |
| 2.2 SF_6气体温度和压力的关系 | 第18-20页 |
| 2.2.1 查表法 | 第18-19页 |
| 2.2.2 模型法 | 第19-20页 |
| 2.2.3 采用近似的压力温度系数 | 第20页 |
| 2.3 SF_6气体密度测量模型的选择 | 第20-24页 |
| 2.3.1 Allied Chemieal方程 | 第20-21页 |
| 2.3.2 Beattie & Bridgeman方程 | 第21页 |
| 2.3.3 M Collet方程 | 第21-22页 |
| 2.3.4 用E Thuries实验校验状态方程 | 第22-24页 |
| 2.4 压力数据处理 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 全温度SF_6气体密度继电器校验装置测量方法 | 第26-32页 |
| 3.1 全温度SF_6气体密度继电器校验装置测量方法 | 第26-27页 |
| 3.2 软件补偿测量法 | 第27-29页 |
| 3.3 SF_6气体补偿测量法 | 第29-31页 |
| 3.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 第四章 全温度SF_6气体密度继电器校验装置总体设计 | 第32-39页 |
| 4.1 工控机选择 | 第32页 |
| 4.2 温控系统选择 | 第32-33页 |
| 4.3 检测系统设计 | 第33-34页 |
| 4.4 全封闭SF_6气体压力调节系统设计 | 第34-35页 |
| 4.5 抽真空系统设计 | 第35页 |
| 4.6 硬件电路 | 第35-37页 |
| 4.7 软件实现 | 第37页 |
| 4.8 人机界面 | 第37-38页 |
| 4.9 本章小结 | 第38-39页 |
| 第五章 校验装置主要指标及运行控制 | 第39-46页 |
| 5.1 主要技术指标 | 第39页 |
| 5.2 校验装置主要界面介绍 | 第39-42页 |
| 5.3 校验装置运行与控制 | 第42-45页 |
| 5.3.1 软件补偿测量法控制流程 | 第42-43页 |
| 5.3.2 SF_6气体补偿测量法控制流程 | 第43-45页 |
| 5.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第六章 校验装置性能测试 | 第46-50页 |
| 6.1 压力示值误差测试 | 第46-47页 |
| 6.2 温度测量误差测试 | 第47页 |
| 6.3 温度补偿误差测试 | 第47-48页 |
| 6.4 SF_6气体密度继电器全温度校验实例 | 第48-49页 |
| 6.5 本章小结 | 第49-50页 |
| 第七章 结论与工作展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 在学期间发表学术论文情况 | 第54-55页 |
| 在学期间参加科研情况 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 作者简介 | 第57页 |
