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光学元件吸收损耗的高灵敏度检测技术研究

致谢第1-4页
摘要第4-5页
ABSTRACT第5-10页
第一章 绪论第10-22页
   ·研究背景第10-11页
   ·吸收损耗类型第11页
   ·吸收损耗测量技术及其国内外发展现状第11-20页
     ·激光量热技术第13-14页
     ·热透镜技术第14-16页
     ·表面热透镜技术第16-17页
     ·光热偏转技术第17-19页
     ·光声光谱技术第19-20页
   ·本论文的研究内容第20-22页
第二章 激光量热法测量大口径光学元件吸收损耗的理论分析第22-36页
   ·引言第22页
   ·激光量热技术简介第22-24页
     ·测量装置介绍第22-23页
     ·均匀温度模型第23-24页
   ·激光量热法测量大口径光学元件吸收损耗的理论模型第24-28页
     ·温度场分布理论第25-26页
     ·测量方法第26-27页
     ·吸收损耗的计算方法第27-28页
   ·样品温升模型的数值计算和有限元计算比较第28-30页
     ·样品半无限近似下的温度场分布特性第28-29页
     ·样品半无限大近似下温度模型的适用性第29-30页
     ·样品无限大平板近似下的温度场分布特性第30页
   ·测量灵敏度第30-32页
   ·温度探测位置误差对测量结果的影响第32-34页
     ·偏置误差对测量结果的影响第33-34页
     ·间距测量误差对测量结果的影响第34页
   ·本章小结第34-36页
第三章 激光诱导偏转技术的定标误差分析第36-66页
   ·引言第36页
   ·测量原理介绍第36-40页
     ·透明光学薄膜测量第38页
     ·高反膜测量第38-39页
     ·体吸收测量第39-40页
     ·薄膜和体吸收同时测量第40页
   ·定标方法介绍第40-44页
     ·加热定标原理第41-42页
     ·吸收损耗的计算第42-44页
   ·样品的温升模型第44-48页
     ·平顶光束激励下的温升模型第45-48页
     ·电阻加热器激励下样品温升的有限元计算第48页
   ·温度场分布特性第48-54页
     ·薄膜吸收时样品的温度场分布第48-52页
     ·体吸收时样品的温升分布第52-54页
   ·激光诱导偏转信号第54-59页
     ·薄膜吸收时的激光诱导偏转信号第55-57页
     ·体吸收时的激光诱导偏转信号第57-59页
   ·定标误差分析第59-65页
     ·薄膜吸收测量的定标误差第59-61页
     ·体吸收测量的定标误差第61-62页
     ·新型电阻加热器的定标误差第62-65页
   ·本章小结第65-66页
第四章 光学元件的表面热变形理论第66-76页
   ·引言第66页
   ·热变形的基本理论第66-70页
   ·连续调制激光激励下样品表面的热变形第70-75页
     ·样品内的温度场分布第70-71页
     ·薄膜对光学样品表面热变形的影响第71-73页
     ·表面热变形的分布特性第73-75页
   ·本章小结第75-76页
第五章 表面热透镜技术测量灵敏度的提高方法第76-85页
   ·引言第76页
   ·表面热透镜技术理论基础第76-79页
     ·高频调制激光激励下的表面热透镜信号第77-79页
     ·低频调制激光激励下的表面热透镜信号第79页
   ·表面热透镜实验第79-83页
     ·实验装置第80-81页
     ·实验结果和讨论第81-83页
   ·本章小结第83-85页
第六章 光热偏转技术的构型优化第85-99页
   ·引言第85页
   ·光热偏转技术的基本理论第85-91页
     ·光热偏转技术的衍射理论第86-88页
     ·构型优化理论第88-89页
     ·构型优化的数值计算第89-91页
   ·低频调制激光激励下光热偏转技术的构型优化第91-97页
     ·光热偏转信号的理论模型第91-92页
     ·实验装置第92-81页
     ·实验结果和讨论第81-97页
   ·本章小结第97-99页
第七章 总结与展望第99-101页
   ·论文主要工作第99-100页
   ·论文创新点第100页
   ·对后续工作的建议第100-101页
参考文献第101-112页
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果第112-113页

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