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VO2薄膜制备及其应用性能基础研究

摘    要第1-7页
Abstract第7-15页
全文图表清单第15-20页
全文符号一览表第20-25页
序  言第25-27页
1 综  述第27-47页
   ·引言第27页
   ·我国攀西地区钒资源及钒产品开发简况第27-32页
     ·钒资源储量第27-28页
     ·攀钢钒工业的发展简介第28-31页
     ·攀钢现有钒产品及其研发简况第31-32页
   ·VO_2薄膜研究综述第32-45页
     ·VO_2薄膜制备及其电学光学性质突变研究综述第33-39页
     ·VO_2薄膜主要制备方法简介及其比较第39-43页
     ·VO_2薄膜的典型性质第43页
     ·VO_2薄膜应用前景展望第43-45页
   ·本研究的目的和意义第45页
     ·本研究的目的第45页
     ·本研究的意义第45页
   ·本研究的创新点第45-46页
   ·本章小结第46-47页
2 工业V_2O_5溶胶-凝胶制备及其主要性能研究第47-61页
   ·主要原料第47页
   ·改进无机溶胶-凝胶法及其工艺第47-51页
     ·改进无机溶胶-凝胶法第47-48页
     ·工艺流程及工艺参数选取第48-49页
     ·实验结果及分析第49-51页
   ·V_2O_5熔体的水淬作用及形核驱动力第51-52页
     ·V_2O_5熔体与水的相互作用第51页
     ·V_2O_5微粒形核驱动力第51-52页
   ·V_2O_5溶胶的流变性第52-54页
     ·胶体粘度变化及与影响因素的关系第52-54页
     ·溶胶向凝胶的转化控制第54页
   ·溶胶的pH值及其变化第54-55页
   ·溶胶中V_2O_5微粒形貌及对粘度的影响第55-57页
     ·V_2O_5微粒形貌第55-56页
     ·V_2O_5微粒团聚及对粘度影响的讨论第56-57页
   ·V_2O_5凝胶的热稳定性第57-60页
   ·本章小结第60-61页
3 制备VO_2薄膜的理论基础及工艺基础第61-95页
   ·V_2O_5的基本物理化学性质第61-64页
     ·V_2O_5的化学性质第61-63页
     ·V_2O_5晶体结构第63-64页
   ·VO_2的物理化学性质第64-66页
     ·VO_2的主要物理化学性质~[2,5,103]第10364-65页
     ·VO_2晶体结构第65-66页
   ·VO_2薄膜制备方案及物理化学基础第66-75页
     ·VO_2薄膜制备方案及其可行性分析第66-67页
     ·热力学计算及分析第67-72页
     ·总的技术路线第72-73页
     ·总的技术路线与攀钢现V_2O_5生产流程的衔接性分析第73-75页
   ·V_2O_5薄膜制备第75-89页
     ·四种涂膜方法简介第76-79页
     ·涂膜作用力分析第79-83页
     ·胶体粘度对涂膜的影响第83页
     ·薄膜厚度的测量及计算第83-85页
     ·V_2O_5薄膜制备工艺第85-89页
   ·V_2O_5薄膜表征第89-92页
     ·V_2O_5薄膜的SEM检测第89-90页
     ·V_2O_5薄膜的XRD检测第90-92页
   ·本章小结第92-95页
4 涂膜装置、薄膜电阻-温度测量装置的改制和研制第95-103页
   ·涂膜装置的改制与制做第95-98页
     ·旋涂法试验装置的改制第95-97页
     ·浸涂法试验装置的制做第97-98页
   ·薄膜电阻测量方法和测量原理第98页
   ·薄膜电阻-温度测量装置的研制第98-101页
     ·加热及温度控制系统第99页
     ·薄膜电阻测量系统第99页
     ·降温冷却系统第99-100页
     ·主要性能指标第100-101页
   ·本章小结第101-103页
5 V_O2薄膜制备实验研究第103-135页
   ·引言第103页
   ·由V_2O_5薄膜制备VO_2薄膜方法原理第103页
   ·VO_2薄膜制备工艺及设备第103-106页
     ·气体测量控制及净化装置第104-105页
     ·电阻炉及温度测量控制系统第105-106页
   ·N_2热分解法制备VO_2薄膜实验研究第106-114页
     ·探索试验第106-108页
     ·石英玻璃衬底V_2O_5薄膜N_2热分解试验第108-110页
     ·普通玻璃衬底V_2O_5薄膜N_2热分解试验第110-112页
     ·扩展试验第112-114页
     ·小结第114页
   ·H_2还原法制备VO_2薄膜实验研究第114-122页
     ·石英玻璃衬底V_2O_5薄膜H_2还原试验第115-117页
     ·普通玻璃衬底V_2O_5薄膜H_2还原试验第117-120页
     ·扩展试验第120-121页
     ·小结第121-122页
   ·VO_2薄膜的表征第122-133页
     ·薄膜形态及其变化第122-123页
     ·XRD法测试物相成份第123-129页
     ·SEM法测试微观形貌第129-133页
   ·本章小结第133-135页
6 VO_2薄膜电阻突变性能研究第135-155页
   ·VO_2薄膜的电阻突变温度及突变数量级第135-143页
     ·VO_2薄膜的电阻突变温度第135-141页
     ·制备方法和衬底材质对VO_2薄膜电阻突变数量级的影响第141-143页
   ·VO_2薄膜电阻突变温度滞后规律研究第143-144页
     ·VO_2薄膜电阻突变温度滞后的概念第143页
     ·VO_2薄膜电阻突变温度滞后规律第143-144页
   ·VO_2薄膜电阻突变稳定性研究第144-147页
     ·VO_2薄膜电阻突变稳定性的概念第144页
     ·VO_2薄膜电阻突变数量级稳定性研究第144-147页
   ·讨论第147页
   ·VO_2薄膜的光谱学特征第147-152页
   ·本章小结第152-155页
7 杂质对VO_2薄膜电阻突变的影响研究第155-183页
   ·半导体基础理论简介第155-159页
     ·半导体的分类第155-156页
     ·半导体中载流子浓度及电阻率第156-158页
     ·纯VO_2的相变机理和导电机理第158-159页
   ·杂质对VO_2薄膜电阻突变影响的实验研究第159-162页
     ·原料条件第159-160页
     ·纯VO_2薄膜电阻突变性能第160-162页
   ·VO_2薄膜中杂质及其存在形态分析第162-166页
     ·杂质种类及杂质浓度第162-163页
     ·杂质元素原子结构及其在VO_2薄膜中存在形态分析第163-166页
   ·杂质对VO_2薄膜电阻突变温度的影响第166-172页
     ·由XRD试验计算VO_2薄膜点阵常数的变化第167-169页
     ·键长的理论计算第169-171页
     ·试验研究结果第171-172页
   ·杂质对VO_2薄膜电阻突变数量级的影响第172-182页
     ·本征VO_2晶体中的载流子浓度第172-173页
     ·单一掺杂VO_2薄膜电阻突变数量级的计算第173-178页
     ·多元掺杂对VO_2薄膜电阻突变数量级的影响分析第178-181页
     ·讨论第181-182页
   ·本章小结第182-183页
8 薄膜耐蚀性能研究第183-193页
   ·引言第183页
   ·薄膜耐蚀指标的确定第183页
   ·V_2O_5薄膜的耐蚀性能研究第183-187页
     ·实验方法第183页
     ·试验结果及分析第183-187页
   ·VO2薄膜的耐蚀性能研究第187-189页
     ·VO_2薄膜在自来水中的耐蚀性能第187页
     ·VO_2薄膜在酸、碱溶液中的耐蚀性能第187-189页
   ·热处理对薄膜耐蚀性能影响分析第189-190页
     ·衬底表面特性及薄膜的附着形态第189-190页
     ·热处理延长薄膜耐蚀时间分析第190页
   ·本章小结第190-193页
9 总结论及建议第193-197页
   ·总结论第193-196页
   ·建议第196-197页
致  谢第197-199页
参考文献第199-207页
附录A  焦性没什子酸溶液配制及用量计算第207-209页
附录B  攻读博士学位期间发表论文、编写教材及从事科研项目研究情况第209-210页

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