中文摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
·课题背景 | 第9-10页 |
·软故障的概念 | 第10-12页 |
·国内外研究进展分析 | 第12-16页 |
·ECC 发展历程 | 第12-14页 |
·ECC 技术分析 | 第14-16页 |
·研究工作与创新点 | 第16-17页 |
第二章 解析冗余及校验码概论 | 第17-23页 |
·解析冗余思想 | 第17-18页 |
·校验编码方式概述 | 第18-20页 |
·校验码选择 | 第20-22页 |
·本章小结 | 第22-23页 |
第三章 扩展汉明码的前端电路设计与验证 | 第23-32页 |
·汉明码述要 | 第23-26页 |
·验证平台的搭建 | 第26-29页 |
·仿真结果 | 第29-30页 |
·综合结果 | 第30-31页 |
·本章小结 | 第31-32页 |
第四章 全定制ECC 电路分析及结构优化 | 第32-42页 |
·需求分析 | 第32-33页 |
·电路分析优化方案以及电路建模 | 第33-38页 |
·版图前时延分析 | 第38-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第五章 全定制电路物理实现 | 第42-54页 |
·全定制设计方法 | 第42页 |
·互连线延迟 | 第42-44页 |
·SI(Signal Integrity)信号完整性 | 第44-46页 |
·耦合电容错报分析 | 第46-47页 |
·版图设计结果及分析 | 第47-49页 |
·版图后时延确认 | 第49-50页 |
·功耗分析 | 第50-53页 |
·基本概念 | 第50页 |
·功耗计算结果 | 第50-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第六章 总结与展望 | 第54-56页 |
·总结 | 第54-55页 |
·展望 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-60页 |
附录 | 第60-61页 |
攻读学位期间发表的论文 | 第61-62页 |
致谢 | 第62-63页 |