| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪言 | 第7-9页 |
| 第二章 专用集成电路(ASIC)的可测性设计方法的概述 | 第9-17页 |
| ·测试的基础概念 | 第9-10页 |
| ·特定的DFT 方法 | 第10-11页 |
| ·可测性的结构设计 | 第11-15页 |
| ·扫描技术 | 第11-14页 |
| ·内建自测试技术 | 第14页 |
| ·边界扫描技术 | 第14-15页 |
| ·小结 | 第15-17页 |
| 第三章 内建自测试(BIST)设计 | 第17-27页 |
| ·BIST 的来源和优势 | 第17-18页 |
| ·BIST 的结构 | 第18-23页 |
| ·测试向量生成 | 第18-21页 |
| ·响应分析 | 第21-23页 |
| ·BIST 系统的测试方式 | 第23-25页 |
| ·BIST 的缺点和代价 | 第25-27页 |
| 第四章 16×16 位定点乘法器的设计及可测性设计 | 第27-40页 |
| ·改进布斯算法基础理论 | 第27-29页 |
| ·定点符号乘法器的电路设计 | 第29-34页 |
| ·布斯编码器逻辑设计 | 第30-31页 |
| ·部分积产生的设计实现 | 第31-32页 |
| ·华莱士压缩树 | 第32页 |
| ·改进的4:2 压缩器 | 第32-33页 |
| ·超前进位加法器 | 第33-34页 |
| ·乘法器的可测性设计 | 第34-39页 |
| ·乘法器核的测试需求 | 第35页 |
| ·测试电路的设计 | 第35-37页 |
| ·对乘法器单元的测试分析 | 第37-38页 |
| ·试验结果 | 第38-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 第五章 嵌入式存储器的可测性设计 | 第40-56页 |
| ·故障模型 | 第40-42页 |
| ·故障原语 | 第42-44页 |
| ·单个单元静态故障 | 第43页 |
| ·静态耦合故障 | 第43-44页 |
| ·单个单元的动态故障 | 第44页 |
| ·动态耦合故障 | 第44页 |
| ·存储器测试算法 | 第44-49页 |
| ·测试算法的比较 | 第45-46页 |
| ·改进的March SS 算法 | 第46-49页 |
| ·数据背景 | 第49-50页 |
| ·双端SRAM BIST 的电路设计 | 第50-55页 |
| ·字定向测试算法的改进 | 第50-51页 |
| ·BIST 电路实现 | 第51-54页 |
| ·实验结果分析 | 第54-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第六章 总结 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第61页 |