基于ARM的导线支柱泄露电流检测的研究与探讨
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-18页 |
·课题研究的背景及意义 | 第9-11页 |
·国内外的研究现状 | 第11-17页 |
·非电量测量法 | 第11-12页 |
·电量测量法 | 第12-14页 |
·泄漏电流测量的研究现状 | 第14-17页 |
·课题研究的内容 | 第17-18页 |
第二章 导线支柱泄露电流的研究及检测方法探讨 | 第18-27页 |
·导线支柱泄露电流的来源研究 | 第18-20页 |
·绝缘子介绍 | 第18-19页 |
·电流泄露发生的原因 | 第19-20页 |
·导线支柱泄露电流的检测方法探讨 | 第20-27页 |
·泄漏电流 | 第20-21页 |
·脉冲频次 | 第21页 |
·模拟实验 | 第21-23页 |
·其它特征量的选取 | 第23-24页 |
·利用锁相放大器的检测方法 | 第24-26页 |
·基于 ARM嵌入式微处理器的监测方法 | 第26-27页 |
第三章 ARM嵌入式微处理器概述 | 第27-37页 |
·ARM嵌入式微处理器简介 | 第27页 |
·ARM微处理器的应用领域及特点 | 第27-28页 |
·ARM微处理器系列介绍 | 第28-32页 |
·ARM微处理器的结构 | 第32-34页 |
·ARM微处理器的应用选型 | 第34-37页 |
第四章 系统的硬件设计 | 第37-59页 |
·系统的总体硬件结构图 | 第37-38页 |
·传感器的设计 | 第38-45页 |
·信号采集模拟实验 | 第38-39页 |
·Rogowski电流传感器 | 第39-41页 |
·改进型 Rogowski电流传感器 | 第41-43页 |
·改进型 Rogowski电流传感器性能测试 | 第43-44页 |
·小结 | 第44-45页 |
·庐山 FS-1型锁相放大器工作原理介绍 | 第45-49页 |
·RMS和峰值 | 第46页 |
·度数和弧度 | 第46页 |
·参考通道 | 第46-47页 |
·参考输入 | 第47页 |
·内部振荡发生器 | 第47-48页 |
·参考振荡发生器和相位 | 第48页 |
·相位抖动 | 第48页 |
·谐波探测器 | 第48-49页 |
·相敏检波器(PSD) | 第49页 |
·系统的硬件选型与单元电路设计 | 第49-53页 |
·电源电路 | 第49页 |
·Flash存储器接口电路 | 第49-50页 |
·SDRAM接口电路 | 第50-52页 |
·串行接口电路 | 第52页 |
·JTAG接口电路 | 第52-53页 |
·硬件系统的调试 | 第53-59页 |
·电源、晶振及复位电路的调试 | 第53页 |
·JTAG接口电路的调试 | 第53-55页 |
·SDRAM电路的调试 | 第55-58页 |
·Flash接口电路的调试 | 第58-59页 |
第五章 系统的软件设计 | 第59-70页 |
·系统软件功能的总体结构及实现过程 | 第59-62页 |
·程序初始化及引导过程 | 第60-61页 |
·SDT开发软件建立交叉编译环境 | 第61-62页 |
·微弱信号检测原理及处理 | 第62-67页 |
·取样积分法 | 第63-64页 |
·同步累积法 | 第64-65页 |
·锁相放大器相关法 | 第65-67页 |
·噪声 | 第67-70页 |
·噪声的定义和种类 | 第68页 |
·噪声的特性 | 第68页 |
·信号和信噪比 | 第68-70页 |
第六章 系统可靠性设计 | 第70-79页 |
·干扰的产生 | 第70-73页 |
·自然干扰源 | 第70-71页 |
·来自其他设备的噪声 | 第71-73页 |
·电路自身干扰源 | 第73页 |
·干扰耦合的途径 | 第73-74页 |
·传导耦合 | 第73页 |
·辐射耦合 | 第73-74页 |
·抗干扰措施 | 第74-77页 |
·屏蔽 | 第74-76页 |
·接地 | 第76-77页 |
·软件抗干扰措施 | 第77页 |
·其它安全措施 | 第77-79页 |
第七章 结论与展望 | 第79-81页 |
·本文的结论 | 第79-80页 |
·对今后工作的展望 | 第80-81页 |
致谢 | 第81-82页 |
参考文献 | 第82-86页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第86-87页 |
附录 | 第87-93页 |