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基于ARM的导线支柱泄露电流检测的研究与探讨

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
第一章 绪论第9-18页
   ·课题研究的背景及意义第9-11页
   ·国内外的研究现状第11-17页
     ·非电量测量法第11-12页
     ·电量测量法第12-14页
     ·泄漏电流测量的研究现状第14-17页
   ·课题研究的内容第17-18页
第二章 导线支柱泄露电流的研究及检测方法探讨第18-27页
   ·导线支柱泄露电流的来源研究第18-20页
     ·绝缘子介绍第18-19页
     ·电流泄露发生的原因第19-20页
   ·导线支柱泄露电流的检测方法探讨第20-27页
     ·泄漏电流第20-21页
     ·脉冲频次第21页
     ·模拟实验第21-23页
     ·其它特征量的选取第23-24页
     ·利用锁相放大器的检测方法第24-26页
     ·基于 ARM嵌入式微处理器的监测方法第26-27页
第三章 ARM嵌入式微处理器概述第27-37页
   ·ARM嵌入式微处理器简介第27页
   ·ARM微处理器的应用领域及特点第27-28页
   ·ARM微处理器系列介绍第28-32页
   ·ARM微处理器的结构第32-34页
   ·ARM微处理器的应用选型第34-37页
第四章 系统的硬件设计第37-59页
   ·系统的总体硬件结构图第37-38页
   ·传感器的设计第38-45页
     ·信号采集模拟实验第38-39页
     ·Rogowski电流传感器第39-41页
     ·改进型 Rogowski电流传感器第41-43页
     ·改进型 Rogowski电流传感器性能测试第43-44页
     ·小结第44-45页
   ·庐山 FS-1型锁相放大器工作原理介绍第45-49页
     ·RMS和峰值第46页
     ·度数和弧度第46页
     ·参考通道第46-47页
     ·参考输入第47页
     ·内部振荡发生器第47-48页
     ·参考振荡发生器和相位第48页
     ·相位抖动第48页
     ·谐波探测器第48-49页
     ·相敏检波器(PSD)第49页
   ·系统的硬件选型与单元电路设计第49-53页
     ·电源电路第49页
     ·Flash存储器接口电路第49-50页
     ·SDRAM接口电路第50-52页
     ·串行接口电路第52页
     ·JTAG接口电路第52-53页
   ·硬件系统的调试第53-59页
     ·电源、晶振及复位电路的调试第53页
     ·JTAG接口电路的调试第53-55页
     ·SDRAM电路的调试第55-58页
     ·Flash接口电路的调试第58-59页
第五章 系统的软件设计第59-70页
   ·系统软件功能的总体结构及实现过程第59-62页
     ·程序初始化及引导过程第60-61页
     ·SDT开发软件建立交叉编译环境第61-62页
   ·微弱信号检测原理及处理第62-67页
     ·取样积分法第63-64页
     ·同步累积法第64-65页
     ·锁相放大器相关法第65-67页
   ·噪声第67-70页
     ·噪声的定义和种类第68页
     ·噪声的特性第68页
     ·信号和信噪比第68-70页
第六章 系统可靠性设计第70-79页
   ·干扰的产生第70-73页
     ·自然干扰源第70-71页
     ·来自其他设备的噪声第71-73页
     ·电路自身干扰源第73页
   ·干扰耦合的途径第73-74页
     ·传导耦合第73页
     ·辐射耦合第73-74页
   ·抗干扰措施第74-77页
     ·屏蔽第74-76页
     ·接地第76-77页
     ·软件抗干扰措施第77页
   ·其它安全措施第77-79页
第七章 结论与展望第79-81页
   ·本文的结论第79-80页
   ·对今后工作的展望第80-81页
致谢第81-82页
参考文献第82-86页
攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果第86-87页
附录第87-93页

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