非制冷红外热成像系统研究
摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
目录 | 第9-13页 |
1 绪论 | 第13-20页 |
·夜视技术发展概况 | 第13-17页 |
·红外热成像系统的发展 | 第14-16页 |
·非制冷红外热成像技术发展优势 | 第16-17页 |
·非制冷红外热成像系统的应用前景 | 第17页 |
·国内、外非制冷热成像技术发展差距与战略对策 | 第17-18页 |
·本文的研究背景和意义 | 第18-19页 |
·本文的工作 | 第19-20页 |
2 非制冷红外热成像系统的基本理论 | 第20-48页 |
·红外辐射特性 | 第20-21页 |
·红外光学系统 | 第21-22页 |
·非制冷焦平面阵列探测理论 | 第22-33页 |
·非制冷焦平面探测原理与分类 | 第22-24页 |
·铁电-热电型探测器 | 第24-26页 |
·电阻型微测辐射热计 | 第26-33页 |
·微测辐射热计的偏置效应 | 第27-29页 |
·微测辐射热计的噪声 | 第29-33页 |
·红外图像处理算法研究 | 第33-44页 |
·红外图像特点及非均匀性因素分析 | 第33-35页 |
·红外图像特点 | 第33-34页 |
·非均匀性产生因素 | 第34-35页 |
·非均匀性校正算法 | 第35页 |
·两点温度定标非均匀性校正算法 | 第35-37页 |
·高通滤波非均匀性校正算法 | 第37-38页 |
·LMS自适应非均匀性校正算法 | 第38-40页 |
·LMS自适应与两点温度定标非均匀性校正综合算法 | 第40-43页 |
·盲元检测及补偿 | 第43-44页 |
·盲元检测 | 第43页 |
·盲元补偿 | 第43-44页 |
·红外图像增强 | 第44-48页 |
·直方图 | 第44-45页 |
·自适应分段线性变换 | 第45-48页 |
3 红外图像处理器研究 | 第48-71页 |
·非制冷焦平面阵列驱动电路 | 第49-54页 |
·非制冷焦平面阵列读出电路 | 第49-51页 |
·驱动电路设计 | 第51-53页 |
·直流电压源的设计 | 第51页 |
·脉冲信号的设计 | 第51-53页 |
·功能仿真 | 第53-54页 |
·TEC电路设计 | 第54-57页 |
·TEC温控原理 | 第54-55页 |
·TEC电路设计 | 第55-56页 |
·结果 | 第56-57页 |
·A/D数据转换 | 第57-58页 |
·基于DSP和FPGA实时信号处理 | 第58-63页 |
·高速DSP电路设计 | 第58-61页 |
·VC33的工作模式选择 | 第59-60页 |
·VC33的中断触发和对输入信号的限制 | 第60页 |
·VC33系统时钟的处理 | 第60-61页 |
·FPGA功能设计 | 第61-63页 |
·两点非均匀性校正实现 | 第62页 |
·复合同步与复合消隐 | 第62页 |
·直方图统计 | 第62-63页 |
·D/A数据转换与视频合成 | 第63-65页 |
·其他电路模块 | 第65-71页 |
·CPLD的功能模块 | 第65-67页 |
·电源 | 第67-71页 |
·电源IC选择 | 第67-68页 |
·电源分配系统网络 | 第68-71页 |
4 图像处理器与PC机的通讯 | 第71-95页 |
·与PC机的通讯接口 | 第71-74页 |
·基于PC的数据采集 | 第74-81页 |
·数据采集硬件平台 | 第74-75页 |
·软件测试系统 | 第75-81页 |
·程序初始化模块 | 第76-78页 |
·串口通讯软件设计模块 | 第78-80页 |
·DSP和FPGA之间的握手 | 第80-81页 |
·红外图像数据采集 | 第81页 |
·红外图像处理算法评估与讨论 | 第81-93页 |
·非均匀性评估及剩余非均匀性 | 第81-89页 |
·红外图像的非均匀性 | 第81-83页 |
·剩余非均匀性定性分析 | 第83-88页 |
·剩余非均匀性的定量分析 | 第88-89页 |
·盲元检测与补偿算法评估 | 第89-93页 |
·图像增强算法评估 | 第93页 |
·结论 | 第93-95页 |
5 视频显示驱动电路 | 第95-103页 |
·4SG31Y43显示器 | 第95-96页 |
·小型CRT驱动电路 | 第96-101页 |
·CD1379模块设计 | 第97页 |
·电源模块 | 第97-98页 |
·行驱动电路模块 | 第98-99页 |
·变压模块 | 第99页 |
·视频放大模块 | 第99-101页 |
·结果与讨论 | 第101-103页 |
6 系统调试与成像 | 第103-111页 |
·硬件调试 | 第103-105页 |
·CPLD调试 | 第103页 |
·片外SRAM调试 | 第103-104页 |
·FLASH调试 | 第104-105页 |
·软件调试 | 第105-108页 |
·联合调试与系统成像 | 第108-110页 |
·结论 | 第110-111页 |
7 结束语 | 第111-115页 |
·本文的工作总结 | 第111-113页 |
·本文的创新点 | 第113页 |
·有待进一步解决的问题 | 第113-115页 |
致谢 | 第115-116页 |
参考文献 | 第116-125页 |
博士期间发表的学术论文 | 第125页 |