| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| 致谢 | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-13页 |
| 第一章 综述 | 第13-31页 |
| ·引言 | 第13-15页 |
| ·统计质量控制回顾 | 第15-17页 |
| ·流程工业统计过程控制 | 第17-20页 |
| ·主元分析 | 第18-19页 |
| ·主元回归与偏最小二乘 | 第19-20页 |
| ·缺失数据处理 | 第20页 |
| ·统计性能监控 | 第20-26页 |
| ·非正态过程监控 | 第21页 |
| ·动态过程监控 | 第21-23页 |
| ·非线性过程监控 | 第23-25页 |
| ·时变与多工况过程监控 | 第25页 |
| ·故障检测与诊断 | 第25-26页 |
| ·间歇过程统计性能监控 | 第26-29页 |
| ·数据预处理 | 第26-27页 |
| ·在线数据填充 | 第27-29页 |
| ·本文结构 | 第29-31页 |
| 第二章 主元分析算法基本问题 | 第31-41页 |
| ·引言 | 第31-32页 |
| ·基本概念 | 第32-34页 |
| ·PCA性能分析 | 第34-37页 |
| ·二阶段PCA算法 | 第37-39页 |
| ·小结 | 第39-41页 |
| 第三章 鲁棒MPCA算法及在间歇过程性能监控中的应用 | 第41-55页 |
| ·引言 | 第41-42页 |
| ·主元分析与多向主元分析 | 第42-44页 |
| ·主元分析 | 第42-43页 |
| ·多向主元分析理论 | 第43-44页 |
| ·鲁棒主元分析 | 第44-47页 |
| ·鲁棒PCA算法及相应统计量 | 第45-47页 |
| ·基于鲁棒MPCA的间歇过程统计性能监控 | 第47-48页 |
| ·鲁棒MPCA在DuPont间歇聚合过程监控中的应用 | 第48-53页 |
| ·过程描述 | 第48-49页 |
| ·鲁棒MPCA应用结果 | 第49-53页 |
| ·小结 | 第53-55页 |
| 第四章 多阶段间歇过程统计性能监控 | 第55-67页 |
| ·引言 | 第55-56页 |
| ·数据集的距离度量 | 第56-59页 |
| ·步进MPCA算法 | 第59-61页 |
| ·步进MPCA在DuPont间歇聚合过程监控中的应用 | 第61-63页 |
| ·步进MPCA在链霉素发酵过程中的应用 | 第63-66页 |
| ·过程描述 | 第63-64页 |
| ·步进MPCA应用结果 | 第64-66页 |
| ·小结 | 第66-67页 |
| 第五章 非高斯投影算法及在间歇过程性能监控中的应用 | 第67-83页 |
| ·引言 | 第67-68页 |
| ·非高斯性度量及独立主元分析 | 第68-72页 |
| ·非高斯性度量 | 第68-71页 |
| ·独立主元分析算法及不足 | 第71-72页 |
| ·基于微粒群优化的非高斯投影算法 | 第72-74页 |
| ·微粒群优化理论 | 第72-73页 |
| ·基于微粒群优化的非高斯投影算法 | 第73-74页 |
| ·基于NGPP的间歇过程统计性能监控 | 第74-76页 |
| ·过程统计量及置信限 | 第74-75页 |
| ·基于NGPP的间歇过程监控 | 第75-76页 |
| ·青霉素发酵过程性能监控应用 | 第76-81页 |
| ·青霉素发酵过程描述 | 第76-77页 |
| ·NGPP监控结果 | 第77-81页 |
| ·小结 | 第81-83页 |
| 第六章 动态多变量过程统计性能监控 | 第83-103页 |
| ·引言 | 第83-84页 |
| ·过程动态性及其影响分析 | 第84-88页 |
| ·动态PCA算法 | 第84-86页 |
| ·过程动态性对统计性能监控的影响 | 第86-88页 |
| ·基于子空间辨识(SI-PCA)的动态过程性能监控 | 第88-93页 |
| ·动态性判别与ARMA-PCA算法 | 第88-90页 |
| ·Subspace Identification PCA(SI-PCA)算法 | 第90-93页 |
| ·基于SI-PCA的动态过程性能监控 | 第93页 |
| ·SI-PCA应用研究 | 第93-100页 |
| ·例1中的应用 | 第93-95页 |
| ·TE过程性能监控应用 | 第95-100页 |
| ·小结 | 第100-103页 |
| 第七章 基于信号重构的传感器故障诊断研究 | 第103-117页 |
| ·引言 | 第103-104页 |
| ·信号重构算法及性质 | 第104-107页 |
| ·重构信号统计量的分布 | 第106-107页 |
| ·基于信号重构的传感器故障诊断 | 第107-109页 |
| ·故障描述 | 第108-109页 |
| ·传感器故障诊断 | 第109页 |
| ·故障的可检测与可分离性 | 第109-111页 |
| ·仿真研究 | 第111-115页 |
| ·小结 | 第115-117页 |
| 第八章 结束语 | 第117-121页 |
| ·研究工作总结 | 第117-118页 |
| ·挑战与展望 | 第118-121页 |
| 参考文献 | 第121-133页 |
| 作者简介 | 第133页 |
| 作者攻博期间发表、录用的论文 | 第133-134页 |
