现场X射线荧光技术在大比例尺地质填图中的应用研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
目录 | 第6-8页 |
前言 | 第8-11页 |
·选题依据 | 第8页 |
·现代地质填图方法的国内外研究现状 | 第8-10页 |
·传统地质填图方法 | 第8页 |
·普通物化探方法 | 第8-9页 |
·核方法--伽马能谱测量 | 第9-10页 |
·本文研究工作的基本情况 | 第10-11页 |
第1章 理论基础 | 第11-17页 |
·X射线荧光分析的物理原理 | 第11-12页 |
·元素定性分析原理 | 第11-12页 |
·元素定量分析原理 | 第12页 |
·地球化学基础 | 第12-17页 |
·化学成分差异是不同岩性的地球化学特征 | 第12-14页 |
·每种岩性都有其特征指示元素 | 第14-15页 |
·元素间的不同组合可以提高识别不同岩性的灵敏度 | 第15-17页 |
第2章 XRF测量中的干扰因素校正 | 第17-26页 |
·基体效应校正措施 | 第17-19页 |
·特散比校正方法的基本原理 | 第17-19页 |
·本文采用的基体效应校正方法的基本形式 | 第19页 |
·相邻元素谱线重叠干扰校正 | 第19-21页 |
·不平度效应及其校正 | 第21-22页 |
·XRF现场测量中的矿化不均匀效应及对策 | 第22-23页 |
·现场XRF测量的数学模型 | 第22-23页 |
·本文采用的现场XRF测量措施 | 第23页 |
·XRF现场测量中测点的代表性误差及对策 | 第23-24页 |
·问题的提出 | 第23-24页 |
·使用移动平均分析减小测点代表误差 | 第24页 |
·XRF现场测量中的其他影响因素与对策 | 第24-26页 |
·水分的影响与校正 | 第24-25页 |
·粉尘或其它污染物的影响与对策 | 第25-26页 |
第3章 XRF测量数据的处理与成图 | 第26-34页 |
·X荧光测量数据的可靠性保证与检验 | 第26-28页 |
·采用合适测量精度的基本考虑 | 第26页 |
·仪器监控的基本考虑与监控工作程序 | 第26-27页 |
·原始数据的审核 | 第27-28页 |
·测量数据的标准化表示 | 第28-30页 |
·问题的提出 | 第28页 |
·理论研究 | 第28-29页 |
·标准化方法 | 第29-30页 |
·X荧光测量数据的基本处理方法 | 第30-31页 |
·基本思路 | 第30-31页 |
·岩性边界点的XRF特征 | 第31-32页 |
·岩性边界点处XRF数据的基本变化规律 | 第31-32页 |
·X荧光测量结果的图件编制 | 第32-34页 |
第4章 野外工作方法 | 第34-38页 |
·仪器的选择与性能检查 | 第34-35页 |
·测网的布置 | 第35-36页 |
·测网布置的基本原则 | 第35页 |
·本文工作采用的测网 | 第35-36页 |
·土壤X荧光测量 | 第36-37页 |
·土壤样品的采集 | 第36页 |
·土壤测量 | 第36-37页 |
·岩石X射线荧光测量 | 第37-38页 |
第5章 初步应用 | 第38-47页 |
·四川炉霍某金矿勘查区应用实例 | 第38-42页 |
·工作区基本概况 | 第38-39页 |
·X荧光测量工作开展情况 | 第39-40页 |
·岩性界线的划分 | 第40-42页 |
·重庆锶矿勘查区应用实例 | 第42-47页 |
·该区地层简介 | 第42-43页 |
·该区构造 | 第43-44页 |
·该区的研究工作情况 | 第44-47页 |
结论和建议 | 第47-48页 |
1 结论 | 第47页 |
2 建议 | 第47-48页 |
致谢 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49页 |