空间应用的信息处理系统抗辐射技术研究
| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-30页 |
| ·课题背景与研究意义 | 第13-19页 |
| ·空间应用电子系统概述 | 第13-14页 |
| ·空间辐射环境与单粒子效应 | 第14-17页 |
| ·空间应用信号处理系统常见的辐射效应及抗辐射设计 | 第17-18页 |
| ·本论文中所做研究工作的意义 | 第18-19页 |
| ·国内外研究现状 | 第19-28页 |
| ·单粒子辐射效应机理的研究现状 | 第19-23页 |
| ·抗辐射加固技术的进展状况 | 第23-25页 |
| ·应用层冗余容错技术的发展 | 第25-27页 |
| ·国内的相关研究情况 | 第27-28页 |
| ·论文研究内容及结构安排 | 第28-30页 |
| 第二章 差错控制编码理论基础 | 第30-36页 |
| ·纠错编码概述 | 第30-32页 |
| ·纠错码的分类 | 第30-31页 |
| ·编码的检错和纠错能力 | 第31-32页 |
| ·线性分组码和完备码 | 第32-34页 |
| ·信息处理系统对纠错编码的功能要求 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 SRAM 存储器的EDAC 方案设计 | 第36-47页 |
| ·汉明码对32 位数据进行EDAC | 第36-39页 |
| ·汉明码的性质 | 第36-37页 |
| ·32 位数据纠错汉明码 | 第37-39页 |
| ·EDAC 模块的设计方案 | 第39-46页 |
| ·纠错模块结构设计 | 第39-43页 |
| ·校正子的分配 | 第43-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 EDAC 模块的FPGA 实现 | 第47-74页 |
| ·基于FPGA 的开发平台 | 第47-50页 |
| ·FPGA 的结构特点 | 第47-48页 |
| ·开发工具和开发流程 | 第48-50页 |
| ·EDAC 模块的FPGA 设计 | 第50-58页 |
| ·EDAC 模块的输入输出端口 | 第50-52页 |
| ·DSP 接口子模块的设计 | 第52-53页 |
| ·纠错子模块设计 | 第53-57页 |
| ·EDAC 模块的顶层设计 | 第57-58页 |
| ·EDAC 功能的仿真验证 | 第58-65页 |
| ·仿真环境介绍 | 第59页 |
| ·仿真试验方法及过程 | 第59-60页 |
| ·仿真试验及结果 | 第60-65页 |
| ·硬件实现及测试 | 第65-73页 |
| ·EDAC 模块的硬件实现平台 | 第65-66页 |
| ·硬件时序调试 | 第66-71页 |
| ·硬件测试验证 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 第五章 DSP 的抗辐射技术研究 | 第74-84页 |
| ·空间辐射对DSP 的主要影响 | 第74-77页 |
| ·DSP 结构及受空间辐射环境的影响 | 第74-75页 |
| ·SEU 在DSP 中的影响 | 第75-77页 |
| ·DSP 应对空间单粒子效应的方法 | 第77-83页 |
| ·复位操作修复“软失效” | 第77-79页 |
| ·TMR 对关键变量的容错 | 第79-83页 |
| ·本章小结 | 第83-84页 |
| 结束语 | 第84-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第91页 |
