某侵彻火箭弹引信可靠性分析及缓冲材料性能研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| ·可靠性研究的意义 | 第8页 |
| ·可靠性研究的发展 | 第8-11页 |
| ·国外可靠性研究的发展 | 第8-9页 |
| ·国内可靠性研究的发展 | 第9-10页 |
| ·缓冲材料发展 | 第10-11页 |
| ·论文的主要工作 | 第11-12页 |
| 2 某侵彻火箭弹引信结构设计分析 | 第12-21页 |
| ·某侵彻火箭弹引信的工作原理 | 第12-13页 |
| ·某侵彻火箭弹引信的电路部分 | 第13-19页 |
| ·侵彻电路的系统构成 | 第13页 |
| ·加速度传感器 | 第13页 |
| ·电荷放大器 | 第13-14页 |
| ·电压放大电路 | 第14-15页 |
| ·滤波电路 | 第15-16页 |
| ·单片机和存储器的选择 | 第16-17页 |
| ·电压变换电路设计 | 第17-18页 |
| ·电解除保险电路 | 第18页 |
| ·发火电路 | 第18-19页 |
| ·某侵彻火箭弹引信的机械结构部分 | 第19-20页 |
| ·本章总结 | 第20-21页 |
| 3 某侵彻火箭弹引信故障树分析 | 第21-31页 |
| ·某侵彻火箭弹引信的故障树绘制 | 第22-29页 |
| ·某侵彻火箭弹引信故障树的分析 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 4 某侵彻火箭弹引信可靠性预计 | 第31-52页 |
| ·电路可靠性预计的基础介绍 | 第31-32页 |
| ·可靠性预计的方法 | 第31页 |
| ·电路可靠性预计分类 | 第31-32页 |
| ·测试电路的可靠性框图 | 第32-33页 |
| ·信号处理电路的可靠性模型 | 第32-33页 |
| ·电源电路的可靠性框图 | 第33页 |
| ·单片机和储存器的可靠性框图 | 第33页 |
| ·元件计数法 | 第33-36页 |
| ·电路工作状态的可靠度 | 第33-35页 |
| ·电路非工作状态的可靠度 | 第35-36页 |
| ·元件应力分析法 | 第36-48页 |
| ·电阻器的失效率 | 第36-37页 |
| ·电容器的失效率 | 第37-39页 |
| ·连接器的失效率 | 第39-40页 |
| ·二极管的失效率 | 第40-41页 |
| ·集成运算放大器TLC2262的失效率 | 第41-43页 |
| ·降压芯片MAX1615的失效率 | 第43-44页 |
| ·C8051F310的失效率 | 第44-45页 |
| ·FM25V10的失效率 | 第45-46页 |
| ·MOS管的失效率 | 第46-47页 |
| ·测试电路的失效率和可靠性 | 第47-48页 |
| ·电路可靠性预计结果分析 | 第48-50页 |
| ·元件计数法和元件应力分析法结果比较 | 第48页 |
| ·提高引信电路可靠度方法 | 第48-50页 |
| ·引信安全系统的可靠性预计 | 第50-51页 |
| ·本章总结 | 第51-52页 |
| 5 某侵彻火箭弹引信中的缓冲材料性能研究 | 第52-65页 |
| ·缓冲材料介绍 | 第52-54页 |
| ·聚四氟乙烯 | 第53页 |
| ·泡沫铝 | 第53-54页 |
| ·LS-DYNA控制方程 | 第54页 |
| ·仿真模型的建立 | 第54-56页 |
| ·侵彻后仿真结果分析 | 第56-61页 |
| ·模型1仿真计算结果及分析 | 第56-57页 |
| ·模型2仿真计算结果及分析 | 第57-58页 |
| ·模型3仿真计算结果及分析 | 第58-59页 |
| ·泡沫铝和聚四氟乙烯缓冲性能对比 | 第59-61页 |
| ·结论 | 第61页 |
| ·缓冲试验 | 第61-64页 |
| ·试验设备设计 | 第62页 |
| ·试验过程 | 第62-63页 |
| ·测试结果分析 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 6 总结与展望 | 第65-67页 |
| ·总结 | 第65-66页 |
| ·展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 附录 | 第72页 |
