| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-11页 |
| ·概述 | 第7-8页 |
| ·学术背景和研究现状 | 第8页 |
| ·研究背景 | 第8-10页 |
| ·主要工作及论文的组织结构 | 第10-11页 |
| 第二章 关键性能参数及其分类 | 第11-21页 |
| ·ADC概述 | 第11-12页 |
| ·关键性能参数 | 第12-15页 |
| ·静态性能参数 | 第12-14页 |
| ·动态性能参数 | 第14-15页 |
| ·各种模数转换器的结构比较 | 第15-20页 |
| ·全并行结构模数转换器(Flash ADC) | 第16-17页 |
| ·两步式模数转换器(Two-step ADC) | 第17-18页 |
| ·折叠内插式模数转换器(Folding/Interpolating ADC) | 第18-19页 |
| ·流水线结构模数转换(Pipeline ADC) | 第19-20页 |
| ·本文模数转换器的结构选取 | 第20-21页 |
| 第三章 系统结构算法和约束 | 第21-30页 |
| ·系统结构算法 | 第21-25页 |
| ·单级2比特算法 | 第21-22页 |
| ·单级1.5比特算法 | 第22-24页 |
| ·数字校准算法 | 第24-25页 |
| ·系统约束指标 | 第25-30页 |
| ·热噪声 | 第26-27页 |
| ·运放的指标 | 第27-30页 |
| 第四章 具体电路设计 | 第30-51页 |
| ·采样保持电路 | 第30-42页 |
| ·采样保持结构 | 第30-32页 |
| ·栅压自举开关 | 第32-35页 |
| ·运算放大器 | 第35-41页 |
| ·采样保持电路仿真结果 | 第41-42页 |
| ·子模数转换器 | 第42-46页 |
| ·子模数转换器与编码电路 | 第43-44页 |
| ·动态比较器 | 第44-46页 |
| ·余量增益电路 | 第46-47页 |
| ·延时和数字校准电路 | 第47-49页 |
| ·时钟产生电路 | 第49-51页 |
| 第五章 芯片实现 | 第51-57页 |
| ·整体电路仿真结果 | 第51-52页 |
| ·版图设计 | 第52-55页 |
| ·寄生效应 | 第52-53页 |
| ·匹配的考虑 | 第53-54页 |
| ·屏蔽与隔离的考虑 | 第54-55页 |
| ·整体版图 | 第55-57页 |
| 第六章 芯片测试 | 第57-67页 |
| ·测试方案 | 第57-60页 |
| ·静态测试 | 第57页 |
| ·动态测试 | 第57-58页 |
| ·测试系统 | 第58-59页 |
| ·PCB设计 | 第59-60页 |
| ·测试结果 | 第60-65页 |
| ·结果分析 | 第65-67页 |
| 第七章 工作总结 | 第67-69页 |
| ·总结 | 第67-68页 |
| ·展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |