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AlGaN材料类同质外延生长及日盲紫外探测器研究

摘要第4-6页
abstract第6-8页
第1章 绪论第17-43页
    1.1 课题研究背景及意义第17-19页
    1.2 AlGaN材料结构特性及参数第19-21页
    1.3 AlGaN材料生长研究进展第21-38页
        1.3.1 AlGaN外延衬底选择第22-24页
        1.3.2 AlN衬底研究进展第24-26页
        1.3.3 AlN模板及AlGaN材料研究进展第26-33页
        1.3.4 AlGaN材料掺杂研究进展第33-38页
    1.4 AlGaN基日盲紫外探测器研究进展第38-41页
    1.5 本论文主要研究工作第41-43页
第2章 AlGaN材料及探测器制备与表征方法第43-61页
    2.1 前言第43页
    2.2 AlGaN材料生长系统第43-46页
        2.2.1 氢化物气相外延(VHPE)第44页
        2.2.2 金属有机化学气相沉积(MOCVD)第44-46页
    2.3 AlGaN材料表征方法第46-57页
        2.3.1 X射线衍射(XRD)第46-50页
        2.3.2 原子力显微镜(AFM)第50-51页
        2.3.3 扫描电子显微镜(SEM)第51-52页
        2.3.4 透射电子显微镜(TEM)第52-53页
        2.3.5 拉曼光谱(Raman)和光致发光谱(PL)第53-55页
        2.3.6 Hall测试系统第55-57页
    2.4 AlGaN基探测器制备方法第57-59页
        2.4.1 光刻工艺第57页
        2.4.2 电子束蒸发第57页
        2.4.3 等离子体增强化学气相沉积(PECVD)第57-58页
        2.4.4 反应离子刻蚀(RIE)第58页
        2.4.5 电感耦合等离子体刻蚀(ICP)第58-59页
    2.5 AlGaN基探测器性能表征设备第59页
        2.5.1 IV测试系统第59页
        2.5.2 光谱响应测试系统第59页
    2.6 本章小结第59-61页
第3章 AlN材料类同质外延生长研究第61-83页
    3.1 前言第61-62页
    3.2 AlN材料中的缺陷研究第62-68页
        3.2.1 AlN材料中的位错缺陷第62-66页
        3.2.2 斜切衬底的bunching效应第66-68页
    3.3 MOCVD中 AlN类同质外延生长第68-75页
        3.3.1 AlN外延层的MOCVD生长第68-69页
        3.3.2 AlN外延层表面形貌的演变第69-70页
        3.3.3 AlN外延层位错的演变规律第70-75页
    3.4 AlN类同质外延缺陷演变驱动力研究第75-81页
        3.4.1 低温层改变缺陷行为第75-77页
        3.4.2 位错演变驱动力分析第77-81页
    3.5 本章小结第81-83页
第4章 AlGaN材料类同质外延生长研究第83-109页
    4.1 前言第83-84页
    4.2 类同质外延AlGaN材料特性研究第84-95页
        4.2.1 AlGaN材料的MOCVD生长第85页
        4.2.2 AlGaN材料应力与表面形貌特性第85-88页
        4.2.3 AlGaN材料组分非均匀性第88-93页
        4.2.4 AlGaN材料激子特性第93-95页
    4.3 金属化预处理对AlGaN材料特性影响研究第95-106页
        4.3.1 金属化预处理AlGaN材料的生长第95-96页
        4.3.2 金属化预处理AlGaN材料应力及表面形貌演变第96-98页
        4.3.3 金属化预处理AlGaN材料组分均匀性分析第98-99页
        4.3.4 金属化预处理AlGaN材料激子特性第99-100页
        4.3.5 金属阳离子空位相关光发射峰抑制第100-104页
        4.3.6 AlGaN中位错对激子的束缚作用第104-106页
    4.4 本章小结第106-109页
第5章 极化增强AlGaN基日盲紫外探测器研究第109-123页
    5.1 前言第109-110页
    5.2 极化增强AlGaN基日盲紫外探测器模拟第110-114页
    5.3 极化增强AlGaN基日盲紫外探测器研制第114-121页
        5.3.1 探测器材料生长与表征第114-117页
        5.3.2 探测器器件制备与表征第117-118页
        5.3.3 探测器性能测试与分析第118-121页
    5.4 本章小结第121-123页
第6章 总结与展望第123-127页
    6.1 论文总结第123-124页
    6.2 研究展望第124-127页
参考文献第127-151页
致谢第151-153页
作者简历及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果第153-154页

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