| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| 1.1 引言 | 第11页 |
| 1.2 研究的背景 | 第11-12页 |
| 1.3 研究的目的和内容 | 第12-13页 |
| 1.4 论文结构 | 第13-15页 |
| 第2章 温度传感器及其关联仪表的工作原理分析及总体方案设计 | 第15-21页 |
| 2.1 温度传感器热电阻工作原理与设备检测要求 | 第15-17页 |
| 2.1.1 温度传感器热电阻测温原理 | 第15-16页 |
| 2.1.2 设备检测要求 | 第16-17页 |
| 2.2 温度传感器及其关联仪表检测仪检测方案设计 | 第17-19页 |
| 2.2.1 原位检测方案的设计 | 第18-19页 |
| 2.2.2 离位检测方案的设计 | 第19页 |
| 2.3 本章小结 | 第19-21页 |
| 第3章 温度场搭建与结构设计 | 第21-29页 |
| 3.1 温度炉腔设计 | 第21-25页 |
| 3.2 腔体温度环境的粗测分析 | 第25-27页 |
| 3.3 本章小结 | 第27-29页 |
| 第4章 温控炉温度场的数学模型确定与控制仿真 | 第29-43页 |
| 4.1 温度炉系统数学模型的建立 | 第29-32页 |
| 4.1.1 温度炉的模型分析 | 第29-30页 |
| 4.1.2 被控对象模型参数的确立 | 第30-32页 |
| 4.2 PID控制方法 | 第32-36页 |
| 4.2.1 常规PID控制 | 第32-33页 |
| 4.2.2 数字PID控制 | 第33-36页 |
| 4.3 PID控制器的参数整定方法 | 第36-38页 |
| 4.3.1 凑试法 | 第36页 |
| 4.3.2 扩充临界比例度法 | 第36页 |
| 4.3.3 过渡过程响应法 | 第36-38页 |
| 4.4 PID控制模型建立与仿真 | 第38-39页 |
| 4.5 史密斯预估补偿法 | 第39-42页 |
| 4.5.1 Smith预估控制原理 | 第39-40页 |
| 4.5.2 Smith预估补偿法的控制仿真 | 第40-42页 |
| 4.6 本章小结 | 第42-43页 |
| 第5章 温度传感器及其关联仪表检测仪硬件电路设计 | 第43-55页 |
| 5.1 检测仪硬件组成 | 第43页 |
| 5.2 各部分电路组成设计和总体布局 | 第43-47页 |
| 5.3 NI数据采集卡的选型 | 第47-49页 |
| 5.4 主控板电路设计 | 第49-53页 |
| 5.4.1 原位检测电路设计 | 第49-50页 |
| 5.4.2 离位检测电路设计 | 第50-51页 |
| 5.4.3 原位离位功能转换电路 | 第51-52页 |
| 5.4.4 电源保护 | 第52-53页 |
| 5.5 本章小结 | 第53-55页 |
| 第6章 温度传感器及其关联仪表检测仪软件设计 | 第55-67页 |
| 6.1 虚拟技术简介 | 第55-57页 |
| 6.1.1 虚拟仪器简介 | 第55-56页 |
| 6.1.2 LabVIEW软件简介 | 第56-57页 |
| 6.2 检测系统软件总体设计 | 第57-59页 |
| 6.3 系统启动自检模块设计 | 第59-63页 |
| 6.4 检测功能模块设计 | 第63-66页 |
| 6.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第7章 实验验证与分析 | 第67-75页 |
| 7.1 实验数据及分析 | 第67-71页 |
| 7.1.1 温控性能验证 | 第67-70页 |
| 7.1.2 温度传感器检测可靠性验证 | 第70-71页 |
| 7.2 温度检测系统的实现 | 第71-73页 |
| 7.3 本章小结 | 第73-75页 |
| 第8章 总结与展望 | 第75-77页 |
| 8.1 课题总结 | 第75页 |
| 8.2 课题展望 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |
| 致谢 | 第81页 |