| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 本课题研究的背景和意义 | 第15-16页 |
| 1.2 晶体振荡器国内外的研究现状和发展趋势 | 第16页 |
| 1.3 论文主要内容及工作安排 | 第16-19页 |
| 第二章 晶体谐振器与晶体振荡器 | 第19-31页 |
| 2.1 晶体谐振器 | 第19-21页 |
| 2.1.1 石英晶体谐振器的物理特性 | 第19-20页 |
| 2.1.2 石英晶体的压电特性 | 第20-21页 |
| 2.2 AT切石英谐振器的特性 | 第21-24页 |
| 2.2.1 石英晶体谐振器的频率温度特性 | 第21-23页 |
| 2.2.2 石英晶体谐振器的热滞效应 | 第23-24页 |
| 2.3 石英晶体谐振器的老化特性 | 第24-26页 |
| 2.3.1 晶体谐振器的老化机理 | 第24-25页 |
| 2.3.2 老化模型的研究 | 第25-26页 |
| 2.4 晶体振荡器的介绍和分类 | 第26-30页 |
| 2.5 本章总结 | 第30-31页 |
| 第三章 谐振参数变化的研究与相位测量基础 | 第31-53页 |
| 3.1 石英晶体谐振器谐振参数特性 | 第31-35页 |
| 3.1.1 石英晶体谐振器的等效电路及其特点 | 第31-34页 |
| 3.1.2 石英晶体谐振器等效电路的电抗-频率-相位特性 | 第34-35页 |
| 3.2 谐振器等效参数的特性 | 第35-44页 |
| 3.2.1 负载电容对石英晶体谐振器的影响 | 第35-37页 |
| 3.2.2 LC移相电路的分析 | 第37-38页 |
| 3.2.3 品质因数Q对谐振器串联谐振性能的影响 | 第38-41页 |
| 3.2.4 LCR并联谐振Q值的影响 | 第41-44页 |
| 3.3 相位测量基础及边沿效应 | 第44-51页 |
| 3.3.1 信号间的相位关系 | 第45-46页 |
| 3.3.2 边沿效应理论 | 第46-47页 |
| 3.3.3 相位重合检测技术 | 第47-51页 |
| 3.4 本章小结 | 第51-53页 |
| 第四章 谐振器相位差测量的系统设计 | 第53-71页 |
| 4.1 谐振器相位差的测量的可行性研究 | 第53-60页 |
| 4.1.1 相位差测量实验 | 第53-55页 |
| 4.1.2 恒温晶振相位差、频率数据的预处理 | 第55-60页 |
| 4.2 对谐振器两端相位差精确测量的模块设计 | 第60-64页 |
| 4.2.1 测量总体方案 | 第60-61页 |
| 4.2.2 实验器件的选型 | 第61-64页 |
| 4.3 各模块的实现 | 第64-68页 |
| 4.3.1 信号的前期处理 | 第64-65页 |
| 4.3.2 相位重合检测电路模块 | 第65-67页 |
| 4.3.3 FPGA和单片机的通信计数模块 | 第67-68页 |
| 4.4 本章小结 | 第68-71页 |
| 第五章 实验数据及误差分析 | 第71-83页 |
| 5.1 实验数据分析 | 第71-77页 |
| 5.1.1 对谐振器两端相位差和频率变化的模型构建 | 第71-76页 |
| 5.1.2 对相位重合检测系统的测量结果分析 | 第76-77页 |
| 5.2 对谐振器的反馈补偿 | 第77-81页 |
| 5.3 误差分析 | 第81-82页 |
| 5.4 本章小结 | 第82-83页 |
| 第六章 总结和展望 | 第83-85页 |
| 6.1 总结 | 第83页 |
| 6.2 工作展望 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 致谢 | 第89-91页 |
| 作者简介 | 第91-92页 |