| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-20页 |
| 1.1 课题的研究背景、目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外的研究现状及分析 | 第10-18页 |
| 1.2.1 高速共焦扫描方法的研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.2 共焦显微系统超分辨方法的研究现状 | 第15-18页 |
| 1.3 本课题需要解决的问题 | 第18页 |
| 1.4 课题来源及主要研究内容 | 第18-20页 |
| 第2章 阵列共焦成像原理分析 | 第20-34页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 无限共轭距共焦成像系统 | 第20-29页 |
| 2.2.1 理想点物的无限共轭距共焦成像系统特性 | 第25-27页 |
| 2.2.2 理想平面镜的无限距共焦系统成像特性 | 第27-29页 |
| 2.3 阵列共焦显微成像原理 | 第29-31页 |
| 2.4 收集物镜的数值孔径对共焦系统轴向响应特性的影响 | 第31-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 闪耀光栅与相位光瞳滤波器的设计 | 第34-51页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 闪耀光栅的原理 | 第34-39页 |
| 3.3 基于阵列共焦的闪耀光栅光束扫描的实现 | 第39-41页 |
| 3.4 闪耀光栅的结构设计 | 第41-42页 |
| 3.5 闪耀光栅闪耀偏转角的测量方法 | 第42-45页 |
| 3.5.1 光束垂直入射的测量方法 | 第43-44页 |
| 3.5.2 光束倾斜入射的测量方法 | 第44-45页 |
| 3.6 相位光瞳滤波器的设计 | 第45-50页 |
| 3.6.1 基于移焦效应的差动结构共焦探测实现方法 | 第45-47页 |
| 3.6.2 相位光瞳滤波器的结构参数设计 | 第47-50页 |
| 3.7 本章小结 | 第50-51页 |
| 第4章 液晶空间光调制器相位调制特性的测量 | 第51-64页 |
| 4.1 引言 | 第51页 |
| 4.2 液晶空间光调制器及其调制原理 | 第51-54页 |
| 4.2.1 液晶空间光调制器的结构 | 第52-53页 |
| 4.2.2 液晶空间光调制器的调制原理 | 第53-54页 |
| 4.3 液晶空间光调制器调制特性的影响因素 | 第54-57页 |
| 4.4 液晶空间光调制器相位调制特性的测量 | 第57-62页 |
| 4.4.1 泰曼-格林干涉原理 | 第58-59页 |
| 4.4.2 液晶空间光调制器相位特性测量方法 | 第59-61页 |
| 4.4.3 条纹图的处理方法 | 第61-62页 |
| 4.5 本章小结 | 第62-64页 |
| 第5章 实验及结果分析 | 第64-80页 |
| 5.1 引言 | 第64页 |
| 5.2 液晶空间光调制器相位调制特性测定实验 | 第64-69页 |
| 5.2.1 相位调制特性测定实验装置 | 第64-65页 |
| 5.2.2 入射光的偏振方向对相位调制特性的影响 | 第65-66页 |
| 5.2.3 相位调制特性稳定性实验 | 第66-68页 |
| 5.2.4 相位调制特性测定实验 | 第68-69页 |
| 5.3 基于闪耀光栅的光束偏转实验 | 第69-74页 |
| 5.3.1 闪耀光栅闪耀偏转角的测量实验装置 | 第70-71页 |
| 5.3.2 垂直入射下偏转角的测量 | 第71-73页 |
| 5.3.3 倾斜入射下偏转角的测量 | 第73-74页 |
| 5.4 阵列共焦扫描实验 | 第74-76页 |
| 5.5 相位光瞳滤波器的移焦特性实验 | 第76-78页 |
| 5.5.1 移焦特性实验装置 | 第76-77页 |
| 5.5.2 移焦特性实验 | 第77-78页 |
| 5.6 本章小结 | 第78-80页 |
| 结论 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-87页 |
| 致谢 | 第87页 |