AMT TCU认证测试系统的设计开发
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 课题相关的背景 | 第9-11页 |
| 1.2 系统开发的目的 | 第11-12页 |
| 第二章 负载箱硬件系统开发制作 | 第12-24页 |
| 2.1 硬件部分需求分析 | 第12页 |
| 2.2 硬件总体设计 | 第12-14页 |
| 2.2.1 系统布局图 | 第12-14页 |
| 2.3 电路的开发工具、芯片和相关设备 | 第14-18页 |
| 2.3.1 电路设计工具 | 第14页 |
| 2.3.2 程控电源和环境模拟试验箱 | 第14-17页 |
| 2.3.3 负载箱控制单元 MCU | 第17-18页 |
| 2.4 硬件电路实现 | 第18-21页 |
| 2.4.1 模拟量输出电路 | 第18-19页 |
| 2.4.2 开关量和 PWM 量输出电路 | 第19页 |
| 2.4.3 电机模拟负载 | 第19-20页 |
| 2.4.4 继电器负载和 TCU 供电电流检测 | 第20-21页 |
| 2.5 负载箱 MCU 控制原理 | 第21-24页 |
| 第三章 上位机测试系统开发 | 第24-64页 |
| 3.1 上位机系统开发工具简介 | 第24-26页 |
| 3.1.1 开发软件 | 第24-25页 |
| 3.1.2 CAN 通讯及 SCPI 语言 | 第25-26页 |
| 3.1.3 上位机运行环境要求 | 第26页 |
| 3.2 上位机程序功能要求 | 第26-28页 |
| 3.3 系统整体设计 | 第28-34页 |
| 3.3.1 开发模式 | 第29-31页 |
| 3.3.2 上位机整体流程图 | 第31-34页 |
| 3.4 测试系统主界面及相关功能 | 第34-37页 |
| 3.4.1 界面功能介绍 | 第34-37页 |
| 3.4.2 界面功能实现程序 | 第37页 |
| 3.5 测试项目编辑界面及相关功能 | 第37-48页 |
| 3.5.1 “Step Page”界面 | 第38-41页 |
| 3.5.2 “Mode Page”界面 | 第41-48页 |
| 3.6 信号组合 Function 的编辑 | 第48-55页 |
| 3.7 测试界面及其工作原理 | 第55-61页 |
| 3.8 测试流程 | 第61-64页 |
| 第四章 数据保存和测试结果 | 第64-74页 |
| 4.1 数据保存 | 第64-68页 |
| 4.1.1 文件保存类型 | 第64-65页 |
| 4.1.2 数据保存 | 第65-68页 |
| 4.2 测试结果 | 第68-74页 |
| 第五章 结论 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-77页 |
| 附录 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |
