| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| 1.1 引言 | 第7页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第7-8页 |
| 1.3 课题内容、背景与意义 | 第8页 |
| 1.4 论文结构 | 第8-10页 |
| 第二章 电源管理器芯片的基本原理 | 第10-18页 |
| 2.1 电源管理器芯片概述 | 第10-12页 |
| 2.2 电源管理器芯片详细功能 | 第12-18页 |
| 2.2.1 控制单元（Controler Function） | 第12页 |
| 2.2.2 线性稳压源（Linear Regulator） | 第12-13页 |
| 2.2.3 开关稳压源（Switching Regulator） | 第13-16页 |
| 2.2.4 电池充电系统（Battery Charger） | 第16页 |
| 2.2.5 保护模块(Protection Module) | 第16-17页 |
| 2.2.6 基准模块(Reference Generator) | 第17-18页 |
| 第三章 飞思卡尔锂电池充电器(Nasuno)原理 | 第18-25页 |
| 3.1 飞思卡尔锂电池充电器概述 | 第18-20页 |
| 3.2 管脚说明 | 第20-22页 |
| 3.2.1 管脚功能说明 | 第20-21页 |
| 3.2.2 管脚允许最大操作值 | 第21-22页 |
| 3.3 芯片的主要性能指标 | 第22-24页 |
| 3.4 测试要求 | 第24-25页 |
| 第四章 飞思卡尔锂电池充电器(Nasuno)的测试研究与开发 | 第25-50页 |
| 4.1 飞思卡尔自动测试系统简介 | 第25-32页 |
| 4.1.1 芯片测试综述 | 第25-27页 |
| 4.1.2 混合信号测试仪（MiST） | 第27-29页 |
| 4.1.3 测试程序开发过程 | 第29-30页 |
| 4.1.4 程序生成软件（TPG） | 第30-32页 |
| 4.2 Nasuno 芯片测试的系统构架 | 第32-34页 |
| 4.3 稳压源的测试开发 | 第34-39页 |
| 4.3.1 稳压源电压电流测试 | 第34-36页 |
| 4.3.2 稳压源输出电压测试 | 第36-39页 |
| 4.4 充电模块的测试开发 | 第39-44页 |
| 4.4.1 Ron 测试 | 第39-41页 |
| 4.4.2 充电门限测试 | 第41-42页 |
| 4.4.3 充电电流测试 | 第42-44页 |
| 4.5 过电压保护模块的测试开发 | 第44-46页 |
| 4.6 温度保护模块的测试开发 | 第46-48页 |
| 4.7 LED 驱动模块的测试开发 | 第48-50页 |
| 第五章 总结与展望 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55页 |
