关于PID现象对组件和系统的影响及相应改善措施的研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 图录 | 第9-10页 |
| 表录 | 第10-11页 |
| 第一章 引言及国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.1 引言 | 第11-12页 |
| 1.2 目前国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 第二章 晶硅组件衰减分析和实验验证 | 第13-19页 |
| 2.1 太阳能组件出现衰减的自身因素 | 第13-14页 |
| 2.2 太阳能组件出现衰减的外界因素 | 第14-15页 |
| 2.3 太阳能组件衰减实验验证 | 第15-18页 |
| 2.3.1 太阳能组件衰减试验方法 | 第16页 |
| 2.3.2 太阳能组件衰减实验验证 | 第16-18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 PID 现象的实验研究 | 第19-37页 |
| 3.1 PID 的概念 | 第19-22页 |
| 3.1.1 PID 现象的出现 | 第19-20页 |
| 3.1.2 PID 的发现和概念 | 第20页 |
| 3.1.3 PID 的成因 | 第20-22页 |
| 3.2 组件漏电流与温度和湿度的关系 | 第22-24页 |
| 3.2.1 漏电流实验的设置 | 第22-23页 |
| 3.2.2 温度与太阳能组件漏电流的关系 | 第23-24页 |
| 3.2.3 湿度与太阳能组件漏电流的关系 | 第24页 |
| 3.3 PID 现象的实验验证方法简述 | 第24-26页 |
| 3.3.1 PID 实验方法 | 第24-26页 |
| 3.4 实验室 PID 测试实验计划及描述 | 第26-29页 |
| 3.4.1 实验方法描述 | 第27-28页 |
| 3.4.2 测试时间周期与实际环境的对应关系 | 第28-29页 |
| 3.5 PID 试验测试实验数据汇总分析 | 第29-32页 |
| 3.5.1 实验室样品测试数据 | 第29-30页 |
| 3.5.2 项目电站样品测试数据 | 第30-32页 |
| 3.6 实验室 PID 测试结论 | 第32-33页 |
| 3.7 实验室 PID 扩展测试 | 第33-35页 |
| 3.7.1 盐雾试验测试环境说明 | 第33页 |
| 3.7.2 盐雾环境试验步骤 | 第33-34页 |
| 3.7.3 盐雾环境实验数据汇总 | 第34-35页 |
| 3.8 导致 PID 现象的因素汇总 | 第35页 |
| 3.9 本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 PID 现象的改善 | 第37-47页 |
| 4.1 PID 现象改善方案的设计 | 第37页 |
| 4.2 改善方案的实验验证 | 第37-42页 |
| 4.2.1 不同工艺晶硅电池片的实验验证 | 第38-39页 |
| 4.2.2 不同体电阻率 EVA 的实验验证 | 第39-41页 |
| 4.2.3 不同材质背板的实验验证 | 第41-42页 |
| 4.3 改善实验验证结论 | 第42页 |
| 4.4 创新的太阳能组件封装方式的探索 | 第42-45页 |
| 4.5 系统方面的改善 | 第45-46页 |
| 4.5.1 预防 PID 做出的系统改善 | 第45页 |
| 4.5.2 已出现 PID 项目的改善 | 第45-46页 |
| 4.6 本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 结束语 | 第47-48页 |
| 5.1 主要工作与创新点 | 第47页 |
| 5.2 后续研究工作 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 致谢 | 第50-51页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第51页 |
