有机薄膜制备工艺的光电测试技术研究
| 中文摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 有机薄膜器件的发展现状 | 第9-12页 |
| 1.2 有机薄膜制备方法与生长模式 | 第12-17页 |
| 1.2.1 有机薄膜制备方法 | 第12-14页 |
| 1.2.2 有机分子束外延生长 | 第14-15页 |
| 1.2.3 有机薄膜生长模式 | 第15-17页 |
| 1.3 薄膜表面表征技术介绍 | 第17-20页 |
| 1.3.1 扫描探针显微技术 | 第17-19页 |
| 1.3.2 电子衍射 | 第19页 |
| 1.3.3 光学测量手段 | 第19-20页 |
| 1.4 课题的研究意义与研究内容 | 第20-21页 |
| 第二章 基于有机薄膜的实验结构与设计 | 第21-31页 |
| 2.1 有机薄膜晶体管的结构 | 第21-22页 |
| 2.2 有机薄膜器件工作原理与特性参数 | 第22-26页 |
| 2.2.1 有机薄膜器件的工作原理 | 第22-24页 |
| 2.2.2 有机薄膜器件特性 | 第24-25页 |
| 2.2.3 有机薄膜器件电学测试方法 | 第25-26页 |
| 2.3 有机薄膜晶体管材料 | 第26-28页 |
| 2.3.1 有机半导体材料 | 第26-28页 |
| 2.3.2 电极材料 | 第28页 |
| 2.4 实验结构设计与实验设备 | 第28-31页 |
| 第三章 光电测试系统设计 | 第31-45页 |
| 3.1 光电测试基本原理 | 第31-33页 |
| 3.1.1 差分反射光谱术基本原理 | 第31-33页 |
| 3.2 光学测试系统设计 | 第33-41页 |
| 3.2.1 光路设计要求 | 第33-34页 |
| 3.2.2 光路系统设计 | 第34-39页 |
| 3.2.3 光学测量计算部分 | 第39-40页 |
| 3.2.4 光学测量系统误差分析 | 第40-41页 |
| 3.3 电学测试系统设计 | 第41-42页 |
| 3.3.1 电学测试夹持装置 | 第41-42页 |
| 3.3.2 电学测试系统构成 | 第42页 |
| 3.4 其它辅助测量手段 | 第42-45页 |
| 第四章 光电测试结果分析 | 第45-54页 |
| 4.1 有机薄膜样品制备 | 第45-47页 |
| 4.2 光学测试结果及分析 | 第47-48页 |
| 4.3 AFM 测试结果及分析 | 第48-51页 |
| 4.4 电学测试结果及分析 | 第51-54页 |
| 第五章 总结与展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
