致谢 | 第4-5页 |
摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第一章 引言 | 第12-30页 |
1.1 课题研究的背景和意义 | 第12-16页 |
1.1.1 X射线脉冲星导航对探测器的要求 | 第12-13页 |
1.1.2 宇宙空间的噪声 | 第13-14页 |
1.1.3 背景噪声抑制方法 | 第14-16页 |
1.2 X射线聚焦光学的分类 | 第16-21页 |
1.2.1 基于反射式的X射线聚焦光学 | 第16-19页 |
1.2.2 基于衍射式的X射线聚焦光学 | 第19-20页 |
1.2.3 基于折射的X射线聚焦元件 | 第20-21页 |
1.3 X射线聚焦光学在空间领域的应用 | 第21-27页 |
1.3.1 国外X射线聚焦光学进展 | 第21-26页 |
1.3.2 国内的聚焦光学方案 | 第26-27页 |
1.4 本文的研究内容及创新点 | 第27-30页 |
1.4.1 本文的研究内容及组织结构 | 第27-28页 |
1.4.2 本文创新点 | 第28-30页 |
第二章 X射线聚焦光学的设计 | 第30-42页 |
2.1 X射线的折射与反射 | 第30-34页 |
2.1.1 介质中X射线的折射率 | 第31-32页 |
2.1.2 X射线在介质表面的全反射 | 第32-33页 |
2.1.3 X射线的反射率 | 第33-34页 |
2.2 X射线聚焦光学设计原则 | 第34-35页 |
2.3 X射线聚焦光学的设计 | 第35-37页 |
2.4 X射线聚焦光学的主要参数 | 第37-41页 |
2.4.1 几何参数 | 第37-39页 |
2.4.2 聚焦效率与有效面积 | 第39-40页 |
2.4.3 焦斑与点扩散函数 | 第40-41页 |
2.5 本章小结 | 第41-42页 |
第三章 多层嵌套式X射线聚焦光学(NXFO)的研制技术 | 第42-66页 |
3.1 曲面镜片的热坍塌工艺研究 | 第42-52页 |
3.1.1 曲面镜片的几种制作方法 | 第42-44页 |
3.1.2 镜片材料的选择及切割方法 | 第44-47页 |
3.1.3 热坍塌模具及其表面处理 | 第47-48页 |
3.1.4 热坍塌方法的确定 | 第48-50页 |
3.1.5 热坍塌温度曲线设定 | 第50-51页 |
3.1.6 镜片中频误差的产生原因分析 | 第51-52页 |
3.2 NXFO的镀膜技术研究 | 第52-58页 |
3.2.1 镜片膜层参数的确定 | 第52-54页 |
3.2.2 镀膜工艺 | 第54-56页 |
3.2.3 镜片表面粗糙度测试和面型测试 | 第56-58页 |
3.3 NXFO的装配 | 第58-63页 |
3.4 本章小结 | 第63-66页 |
第四章 NXFO的性能测试 | 第66-84页 |
4.1 可见光条件下的焦距与焦斑测量 | 第66-68页 |
4.2 X射线测试系统 | 第68-74页 |
4.2.1 测试系统介绍 | 第68页 |
4.2.2 硅漂移X射线探测器 | 第68-70页 |
4.2.3 X射线光源 | 第70-74页 |
4.3 X射线焦斑尺寸测试 | 第74-77页 |
4.3.1 X射线成像仪 | 第74-75页 |
4.3.2 焦斑形状及尺寸测试 | 第75-77页 |
4.4 聚焦效率及有效面积测试 | 第77-82页 |
4.4.1 聚焦效率测试 | 第77-81页 |
4.4.2 有效面积 | 第81-82页 |
4.4.3 结果讨论及分析 | 第82页 |
4.5 本章小结 | 第82-84页 |
第五章 NXFO在空间X射线通信中的应用研究 | 第84-96页 |
5.1 空间X射线通信 | 第84-88页 |
5.1.1 X射线通信的特点 | 第84-85页 |
5.1.2 X射线通信的潜在应用 | 第85页 |
5.1.3 X射线通信的发展 | 第85-87页 |
5.1.4 X射线通信关键技术 | 第87-88页 |
5.2 空间X射线通信中“天线”工作原理 | 第88-89页 |
5.3 信号传播功率分析 | 第89-91页 |
5.4 X射线通信的“收发天线” | 第91-94页 |
5.4.1“发射天线”的发散角 | 第91-92页 |
5.4.2 “发射天线”增益 | 第92-93页 |
5.4.3 “接收天线”的增益 | 第93-94页 |
5.5 本章小结 | 第94-96页 |
第六章 总结与展望 | 第96-99页 |
6.1 全文总结 | 第96-97页 |
6.2 工作展望 | 第97-99页 |
参考文献 | 第99-106页 |
附录 缩略词 | 第106-107页 |
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第107页 |