超导NbN HEB太赫兹直接检测器
| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-24页 |
| 1.1 太赫兹简介 | 第9-11页 |
| 1.2 太赫兹源 | 第11-15页 |
| 1.2.1 返波管太赫兹源 | 第11页 |
| 1.2.2 固态太赫兹源 | 第11-13页 |
| 1.2.3 远红外太赫兹源 | 第13-14页 |
| 1.2.4 量子级联激光器 | 第14-15页 |
| 1.3 太赫兹检测器 | 第15-24页 |
| 1.3.1 混频检测器 | 第16-20页 |
| 1.3.2 直接检测器 | 第20-24页 |
| 第二章 太赫兹在安检成像方面的应用 | 第24-34页 |
| 2.1 主动太赫兹成像系统 | 第25-28页 |
| 2.1.1 脉冲太赫兹成像 | 第25-27页 |
| 2.1.2 连续波太赫兹成像 | 第27-28页 |
| 2.2 被动太赫兹成像系统 | 第28-31页 |
| 2.3 太赫兹被动成像进展 | 第31-32页 |
| 2.4 本论文的主要工作 | 第32-34页 |
| 第三章 NbN HEB | 第34-49页 |
| 3.1 NbN HEB制作工艺 | 第34-36页 |
| 3.2 NbN HEB信号耦合 | 第36-37页 |
| 3.3 NbN HEB混频测量系统 | 第37-42页 |
| 3.4 混频性能测量 | 第42-49页 |
| 3.4.1 噪声温度测量 | 第42-45页 |
| 3.4.2 中频增益带宽测量 | 第45-49页 |
| 第四章 NbN HEB直接检测 | 第49-81页 |
| 4.1 NbN HEB热电响应 | 第49-60页 |
| 4.1.1 NbN HEB I-V曲线热响应 | 第49-51页 |
| 4.1.2 NbN HEB I-V曲线太赫兹响应 | 第51-57页 |
| 4.1.3 NbN HEB I-V曲线微波响应 | 第57-60页 |
| 4.2 NbN HEB基本性能表征 | 第60-61页 |
| 4.3 直接检测器响应率分析 | 第61页 |
| 4.4 直接检测系统噪声来源 | 第61-62页 |
| 4.5 NbN HEB直接检测器偏置方式 | 第62-65页 |
| 4.5.1 热偏置 | 第63-64页 |
| 4.5.2 太赫兹偏置 | 第64-65页 |
| 4.5.3 微波偏置 | 第65页 |
| 4.6 偏置电流读出法 | 第65-70页 |
| 4.7 微波反射读出法 | 第70-81页 |
| 第五章 NbN HEB太赫兹直接检测器的应用验证 | 第81-91页 |
| 5.1 太赫兹源测量 | 第83-90页 |
| 5.1.1 VDI固态太赫兹源辐射谱测量 | 第83-85页 |
| 5.1.2 THz QCL辐射谱测量 | 第85-90页 |
| 5.2 太赫兹滤波器测量 | 第90-91页 |
| 第六章 总结 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-100页 |
| 博士期间研究成果 | 第100-102页 |
| 致谢 | 第102-104页 |
