| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-11页 |
| 目录 | 第11-15页 |
| 第1章 引言 | 第15-34页 |
| ·天文望远镜简史 | 第15-17页 |
| ·詹姆斯韦伯空间望远镜(JWST)介绍 | 第17-19页 |
| ·天文应用红外探测器 | 第19-21页 |
| ·天文应用红外探测器现状 | 第19-20页 |
| ·HgCdTe 和其他红外探测器暗电流比较 | 第20-21页 |
| ·天文应用 HgCdTe 红外焦平面探测器 | 第21-26页 |
| ·红外探测器的暗电流和品质参数 R0A | 第21-23页 |
| ·天文应用红外 HgCdTe 探测器性能特点 | 第23-24页 |
| ·国外天文应用红外探测器发展现状 | 第24-26页 |
| ·面阵 HgCdTe 红外焦平面探测器的盲元 | 第26-31页 |
| ·JWST 载荷用 HgCdTe 红外探测器的盲元问题 | 第26-27页 |
| ·面阵 HgCdTe 焦平面探测器的主要性能表征 | 第27-28页 |
| ·国内外面阵 HgCdTe 焦平面探测器的研究现状 | 第28-31页 |
| ·论文研究出发点及内容构成 | 第31-34页 |
| ·本文研究的出发点 | 第31-32页 |
| ·本文的内容安排 | 第32-34页 |
| 第2章 中波 HgCdTe 探测器暗电流 I—V 测试系统 | 第34-60页 |
| ·中波 HgCdTe 探测器暗电流 I—V 特性测试遇到的挑战 | 第34-41页 |
| ·中波 HgCdTe 探测器暗电流大小 | 第34-35页 |
| ·暗电流 IV 特性和 300K 背景辐射 I—V 特性的区别 | 第35-37页 |
| ·国内外暗电流 I—V 特性测试方法及现状 | 第37-41页 |
| ·中波 HgCdTe 红外探测器 I—V 特性测试方法研究 | 第41-55页 |
| ·高精度暗电流 I—V 特性测试系统的构成 | 第41-42页 |
| ·测试系统噪声的来源 | 第42-49页 |
| ·冷屏辐射电流 | 第49-52页 |
| ·电容效应对测试结果的影响 | 第52-55页 |
| ·测试方法优化前后的结果对比 | 第55-58页 |
| ·优化前后测试系统的误差 | 第55-56页 |
| ·优化前后测试结果的比较 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 第3章 中波 HgCdTe 红外探测器暗电流拟合分析 | 第60-76页 |
| ·光伏型 HgCdTe 探测器的暗电流机制 | 第60-64页 |
| ·光伏型 HgCdTe 探测器暗电流的成分 | 第60-63页 |
| ·液氮温度下中波 HgCdTe 探测器暗电流的主要成分 | 第63-64页 |
| ·中波 HgCdTe 器件的暗电流拟合分析 | 第64-68页 |
| ·样品的选择 | 第65页 |
| ·液氮温度下样品暗电流 RV 特性拟合 | 第65-68页 |
| ·关于拟合结果更详细的讨论 | 第68-74页 |
| ·不同衬底对 HgCdTe PN 结暗电流的影响 | 第68-69页 |
| ·优值因子 R0A 的国内外差距探讨 | 第69-74页 |
| ·本章小结 | 第74-76页 |
| 第4章 利用长时间积分方法测试器件暗电流 | 第76-93页 |
| ·器件暗电流的长时间积分测试方法 | 第76-78页 |
| ·长时间积分方法的必要性 | 第76-77页 |
| ·典型的读出电路介绍 | 第77-78页 |
| ·长时间积分暗电流测试的特点与难点 | 第78-84页 |
| ·信号微弱 | 第79页 |
| ·积分时间长 | 第79-81页 |
| ·ROIC Glow | 第81页 |
| ·FUR 采样 | 第81-84页 |
| ·国内长时间积分方法的研究现状 | 第84-85页 |
| ·短波 HgCdTe 红外探测器零偏暗电流的测试分析 | 第85-91页 |
| ·短波 HgCdTe 红外探测器暗电流 I—V 特性 | 第85-86页 |
| ·CTIA 型长时间积分暗电流测试与分析 | 第86-88页 |
| ·DI 型读出电路长时间积分暗电流测试及分析 | 第88-91页 |
| ·测试结果总结 | 第91页 |
| ·本章小结 | 第91-93页 |
| 第5章 面阵红外焦平面探测器盲元分析 | 第93-119页 |
| ·制约异质衬底面阵焦平面探测器性能的主要因素 | 第93-95页 |
| ·面阵红外焦平面探测器盲元类型 | 第93-94页 |
| ·铟柱互连对面阵焦平面探测器盲元率的影响 | 第94-95页 |
| ·面阵器件盲元分析遇到的挑战 | 第95-105页 |
| ·红外焦平面探测器盲元分类 | 第95-96页 |
| ·测试系统 BUG 对盲元分析的影响 | 第96-98页 |
| ·辐射通量非均匀性对器件盲元分析的影响 | 第98-105页 |
| ·响应率盲元对成因分析 | 第105-112页 |
| ·响应率盲元对现象 | 第105-107页 |
| ·响应率盲元对的特点 | 第107-111页 |
| ·响应率盲元对的成因 | 第111-112页 |
| ·铟柱高度统计新方法 | 第112-118页 |
| ·铟柱高度统计的必要性 | 第112-114页 |
| ·铟柱高度统计过程 | 第114-116页 |
| ·新旧铟柱高度统计方法结果对比 | 第116-118页 |
| ·本章小结 | 第118-119页 |
| 第6章 总结和展望 | 第119-122页 |
| ·全文总结 | 第119-120页 |
| ·问题与展望 | 第120-122页 |
| 参考文献 | 第122-131页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第131-132页 |
