致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
目录 | 第7-10页 |
第1章 引言 | 第10-23页 |
·研究背景 | 第10-20页 |
·传统红外探测技术发展现状 | 第11-14页 |
·红外上转换技术 | 第14-19页 |
·QWIP-LED 器件 | 第19-20页 |
·研究意义 | 第20-21页 |
·国内外研究现状 | 第21-22页 |
·国外研究进展 | 第21-22页 |
·国内研究进展 | 第22页 |
·本章小结 | 第22-23页 |
第2章 QWIP-LED 器件特性及成像系统性能指标分析 | 第23-37页 |
·QWIP-LED 结构构成及工作原理 | 第23-27页 |
·QWIP-LED 结构 | 第23-26页 |
·QWIP-LED 工作原理 | 第26-27页 |
·QWIP-LED 性能分析 | 第27-31页 |
·图像对比度传递特性 | 第27-30页 |
·QWIP-LED 红外上转换效率 | 第30-31页 |
·QWIP-LED 提高外量子效率途径 | 第31-33页 |
·成像探测系统性能指标分析 | 第33-36页 |
·系统调制传递函数 | 第33-34页 |
·噪声等效温差 NETD 分析 | 第34-36页 |
·本章小结 | 第36-37页 |
第3章 二维光子晶体厚膜用于提高 QWIP-LED 光提取效率的仿真研究 | 第37-58页 |
·光子晶体能带理论 | 第37-39页 |
·二维光子晶体电磁场数值模拟计算 | 第39-46页 |
·时域有限差分法(FDTD) | 第39-44页 |
·边界条件 | 第44-45页 |
·模拟激励源 | 第45页 |
·时域电磁场记录 | 第45页 |
·能带结构计算 | 第45-46页 |
·二维光子晶体能带结构 | 第46-49页 |
·建模与数值计算 | 第46-47页 |
·能带分析 | 第47-49页 |
·二维光子晶体厚膜(PCS)的能带结构 | 第49-52页 |
·建模与数值计算 | 第49-51页 |
·能带计算与分析 | 第51-52页 |
·二维光子晶体厚膜用于提高 QWIP-LED 光学效率 | 第52-57页 |
·器件分析与建模 | 第53-54页 |
·二维光子晶体厚膜参数扫描计算 | 第54-56页 |
·仿真结果分析 | 第56-57页 |
·本章小结 | 第57-58页 |
第4章 QWIP-LED/EMCCD 成像探测系统设计与实现 | 第58-99页 |
·基于 QWIP-LED 器件的红外探测系统方案 | 第58-59页 |
·近红外光耦合系统 | 第59-62页 |
·QWIP-LED/CCD 直接耦合 | 第59-60页 |
·光纤传像束进行 QWIP-LED/CCD 耦合方案 | 第60-62页 |
·传统近红外光学系统耦合方案 | 第62页 |
·CCD 驱动与数据采集 | 第62-64页 |
·高速图像数据传输系统 | 第64-67页 |
·千兆以太网方案设计 | 第65-67页 |
·QWIP-LED/EMCCD 成像探测系统实现 | 第67-86页 |
·系统结构设计 | 第67页 |
·长波红外光学系统 | 第67-69页 |
·探测器杜瓦组件及制冷机 | 第69-70页 |
·近红外光学系统 | 第70-71页 |
·EMCCD 图像获取单元 | 第71-77页 |
·模数转换模块 | 第77-82页 |
·千兆以太网数据传输模块 | 第82-86页 |
·程序设计 | 第86-96页 |
·总体设计 | 第86-87页 |
·EMCCD 驱动设计 | 第87-90页 |
·相关双采样程序设计 | 第90-91页 |
·图像数据整理及数据发送 | 第91页 |
·高速数据传输系统设计 | 第91-96页 |
·上位机用户控制界面程序 | 第96-98页 |
·数据接收 | 第97-98页 |
·图像显示 | 第98页 |
·程序界面与运行实例 | 第98页 |
·本章小结 | 第98-99页 |
第5章 样机演示实验与系统性能分析 | 第99-115页 |
·QWIP-LED 器件测试 | 第99-101页 |
·器件响应光谱测试分析 | 第99-100页 |
·发光光谱测试 | 第100-101页 |
·光学系统装校与测试 | 第101-103页 |
·长波红外光学系统 | 第101-102页 |
·近红外光学系统 | 第102-103页 |
·近红外成像系统成像测试 | 第103-104页 |
·系统性能测试与分析 | 第104-111页 |
·QWIP-LED 出射光波段辐亮度动态范围估算 | 第104-105页 |
·噪声等效温差分析与测试方案 | 第105-107页 |
·近红外成像系统信噪比测试 | 第107-111页 |
·系统调制传递函数(MTF)测试 | 第111-112页 |
·QWIP-LED 电致发光样品成像测试 | 第112-113页 |
·本章小结 | 第113-115页 |
第6章 结论与展望 | 第115-117页 |
·研究结论 | 第115页 |
·研究展望 | 第115-117页 |
参考文献 | 第117-123页 |
作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第123页 |