| 致谢 | 第1-9页 |
| 摘要 | 第9-10页 |
| ABSTRACT | 第10-16页 |
| 插图清单 | 第16-18页 |
| 表格清单 | 第18-19页 |
| 第一章 绪论 | 第19-31页 |
| ·引言 | 第19页 |
| ·压电陶瓷的压电效应及机理 | 第19-21页 |
| ·压电陶瓷的压电效应 | 第19-20页 |
| ·压电效应产生的机理 | 第20-21页 |
| ·压电陶瓷的背景 | 第21-24页 |
| ·压电陶瓷的发展历程 | 第21-22页 |
| ·压电陶瓷的应用 | 第22-23页 |
| ·压电陶瓷的研究趋势及发展方向 | 第23-24页 |
| ·PZT 系列压电陶瓷概述 | 第24-29页 |
| ·PZT 系压电陶瓷的结构 | 第24-25页 |
| ·PZT 系压电陶瓷的准同型相界 | 第25-26页 |
| ·MPB 在铅基压电陶瓷体系中的应用 | 第26-27页 |
| ·PZT 系陶瓷的掺杂改性研究 | 第27-29页 |
| ·论文的设计思想及研究内容 | 第29-31页 |
| ·论文的设计思想 | 第29页 |
| ·具体研究内容 | 第29-31页 |
| 第二章 实验方法及样品测试手段 | 第31-36页 |
| ·实验原料及仪器设备 | 第31-32页 |
| ·实验步骤和工艺 | 第32-33页 |
| ·陶瓷样品的微观结构测试 | 第33-34页 |
| ·物相组成结构（XRD） | 第33页 |
| ·显微结构分析（SEM） | 第33页 |
| ·样品体积密度测试 | 第33-34页 |
| ·陶瓷样品的电学性能测试 | 第34-36页 |
| 第三章 PSN-PZN-PZT 压电陶瓷相结构与性能的研究 | 第36-51页 |
| ·引言 | 第36-37页 |
| ·0.02PSN-0.20PZN-0.78PZ_xT_(1-x)压电陶瓷性能的研究 | 第37-43页 |
| ·实验过程 | 第37页 |
| ·物相结构分析 | 第37-39页 |
| ·显微结构分析 | 第39-40页 |
| ·电学性能分析 | 第40-43页 |
| ·烧结温度对 0.02PSN-0.2PZN-0.78PZT 陶瓷性能的影响 | 第43-47页 |
| ·烧结温度对微观形貌和体积密度的影响 | 第43-45页 |
| ·烧结温度对机电性能的影响 | 第45-47页 |
| ·极化条件对 0.02PSN-0.2PZN-0.78PZT 陶瓷性能的影响 | 第47-49页 |
| ·极化电场（E） | 第47-48页 |
| ·极化温度（T） | 第48-49页 |
| ·极化时间（t） | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 La_2O_3掺杂对 PSN-PZN-PZT 陶瓷的性能研究 | 第51-60页 |
| ·引言 | 第51页 |
| ·La_2O_3掺杂对 PSN-PZN-PZT 陶瓷性能的影响 | 第51-56页 |
| ·La_2O_3掺杂对相结构的影响 | 第51-52页 |
| ·La_2O_3掺杂对微观形貌的影响 | 第52-53页 |
| ·La_2O_3掺杂对介电性能的影响 | 第53-55页 |
| ·La_2O_3掺杂对压电性能的影响 | 第55-56页 |
| ·烧结工艺对陶瓷机电性能的影响 | 第56-58页 |
| ·烧结温度对介电压电性能的影响 | 第56-57页 |
| ·低温热处理对机电性能的影响 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 BMT-PZ-PT 陶瓷的相结构和电学性能研究 | 第60-72页 |
| ·引言 | 第60-61页 |
| ·实验过程 | 第61页 |
| ·实验结果与讨论 | 第61-70页 |
| ·物相结构分析 | 第61-62页 |
| ·弛豫相变行为及损耗分析 | 第62-65页 |
| ·铁电性能分析 | 第65-66页 |
| ·压电及介电性能分析 | 第66-69页 |
| ·单级应变分析 | 第69-70页 |
| ·本章小结 | 第70-72页 |
| 第六章 结论 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-80页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第80-81页 |
