首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--一般性问题论文--结构论文

辐射电磁干扰对微波有源电路影响的研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-8页
图表清单第8-11页
第一章 绪论第11-15页
   ·研究背景第11页
   ·国内外研究现状第11-14页
   ·本文主要工作及结构安排第14-15页
第二章 基于 HFSS 和 ADS 的去耦分析方法研究第15-25页
   ·引言第15页
   ·基本原理第15-16页
   ·方法验证第16-18页
   ·功率放大电路的辐射敏感度分析第18-22页
     ·仿真建模第18-21页
     ·仿真结果与分析第21-22页
   ·功率放大器抗扰度改进方法第22-24页
     ·改变屏蔽体上孔缝形状第22-23页
     ·加入反辐射电压源第23-24页
   ·小结第24-25页
第三章 混合 S 参数矩阵方法研究第25-49页
   ·引言第25页
   ·基本原理第25-31页
     ·物理端口 S 参数矩阵提取第26-27页
     ·平面波激励下混合 S 参数提取第27-30页
     ·分析流程第30-31页
   ·辐射干扰对二端口传输线网络影响分析实例第31-36页
     ·物理端口 S 参数提取第31-33页
     ·平面波激励下混合 S 参数提取第33-35页
     ·ADS 建模分析第35-36页
   ·辐射干扰对四端口传输线网络影响分析实例第36-42页
     ·物理端口 S 参数提取第37-39页
     ·平面波激励下混合 S 参数提取第39-40页
     ·ADS 建模分析第40-42页
   ·宽带辐射干扰对不完整屏蔽腔内功放 PCB 板耦合分析实例第42-48页
     ·物理端口 S 参数提取第43-44页
     ·平面波激励下混合 S 参数提取第44-46页
     ·ADS 建模分析第46-48页
   ·小结第48-49页
第四章 低噪声放大器辐射敏感度验证实验第49-55页
   ·引言第49页
   ·实验系统的组成第49页
   ·仿真建模第49-50页
   ·实验结果及仿真结果对比第50-54页
   ·小结第54-55页
第五章 总结与展望第55-56页
   ·总结第55页
   ·展望第55-56页
参考文献第56-61页
致谢第61-62页
在学期间的研究成果及发表的学术论文第62-63页
附录 A 广义函数束法基本原理及实例验证第63-67页
 A.1 广义函数束法的基本原理第63-65页
 A.2 广义函数束法的实例验证第65-67页

论文共67页,点击 下载论文
上一篇:数字电路板测试系统应用软件设计
下一篇:基于无线传感网络的跑道侵入检测告警系统研究